質(zhì)子磁力儀磁測(cè)資料預(yù)處理研究
本文關(guān)鍵詞:質(zhì)子磁力儀磁測(cè)資料預(yù)處理研究
更多相關(guān)文章: 質(zhì)子磁力儀 預(yù)處理 日變校正 正常梯度改正 坐標(biāo)變換
【摘要】:通過(guò)磁力儀獲得準(zhǔn)確的目標(biāo)體磁異常是磁力勘探的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。而質(zhì)子旋進(jìn)磁力儀作為第二代磁力儀的重要分支,憑借其精度高、攜帶方便等優(yōu)勢(shì),逐漸成為磁力勘探領(lǐng)域中應(yīng)用最廣泛的一類磁力儀。為了取得可靠的磁異常,不僅需要磁力儀使用正確的工作方式,還要對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行消除干擾的各項(xiàng)改正,在進(jìn)行解釋及正反演研究之前,還要進(jìn)行突出異常的變換和濾波,這些都是預(yù)處理要完成的工作。 為了豐富課題組研制磁力儀的功能,針對(duì)產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中預(yù)處理上位機(jī)軟件的開發(fā)需要,本文研究了預(yù)處理中的若干關(guān)鍵問(wèn)題,包括儀器檢查、資料整理和校正、坐標(biāo)變換、磁異常定性解釋等。基于理論研究開發(fā)的上位機(jī)軟件與課題組研制的JPM、JOM型質(zhì)子磁力儀相配套,取得了初步的處理成果。 本文依據(jù)相關(guān)行業(yè)規(guī)范和實(shí)測(cè)經(jīng)驗(yàn)總結(jié)歸納了儀器檢查的內(nèi)容及方法,包括儀器噪聲水平、觀測(cè)精度、系統(tǒng)誤差、一致性等,,并給出了針對(duì)現(xiàn)有儀器的處理意見;文章隨后在介紹地磁場(chǎng)短期變化規(guī)律的基礎(chǔ)上,討論了日變觀測(cè)及應(yīng)用于上位機(jī)軟件的日變校正方法;從介紹高斯球諧分析模式入手,文章接著闡述了以IGRF模型為正常地磁場(chǎng)進(jìn)行正常梯度改正和高度改正的理論依據(jù)和實(shí)際改正方法;以實(shí)際中常見的WGS-84經(jīng)緯度坐標(biāo)轉(zhuǎn)北京-54平面坐標(biāo)為例,本文按照計(jì)算步驟研究了預(yù)處理中的典型坐標(biāo)變換問(wèn)題,包括橢球基準(zhǔn)的轉(zhuǎn)換及坐標(biāo)投影等,解決了編程計(jì)算的理論障礙;論文接著基于對(duì)局部地磁場(chǎng)模型的仿真結(jié)果,定性地研究了不同磁緯度下典型目標(biāo)體的磁異常形態(tài),及目標(biāo)體材料、埋深對(duì)異常曲線的影響規(guī)律,為軟件解釋模塊的設(shè)計(jì)和定量解釋研究建立了基礎(chǔ);最后介紹了在windows平臺(tái)上根據(jù)上述理論研究開發(fā)的預(yù)處理軟件JEMLab的設(shè)計(jì)思路和主要功能,以日變校正和IGRF計(jì)算器為例展示了數(shù)據(jù)處理的初步結(jié)果。
【關(guān)鍵詞】:質(zhì)子磁力儀 預(yù)處理 日變校正 正常梯度改正 坐標(biāo)變換
【學(xué)位授予單位】:吉林大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:TH763.1
【目錄】:
- 摘要4-5
- ABSTRACT5-7
- 目錄7-9
- 第1章 緒論9-13
- 1.1 研究背景與意義9-10
- 1.2 國(guó)內(nèi)外進(jìn)展?fàn)顩r10-11
- 1.3 本文主要研究?jī)?nèi)容與安排11-13
- 第2章 儀器的檢查與試驗(yàn)13-17
- 2.1 檢查的目的和意義13
- 2.2 檢查的內(nèi)容和方法13-16
- 2.3 本章小結(jié)16-17
- 第3章 磁測(cè)資料的整理與校正17-35
- 3.1 日變校正17-22
- 3.1.1 日變校正的目的17-18
- 3.1.2 日變觀測(cè)18
- 3.1.3 日變校正的方法18-22
- 3.2 正常梯度改正與高度改正22-33
- 3.2.1 高斯球諧模式與國(guó)際地磁參考場(chǎng)23-27
- 3.2.2 IGRF 計(jì)算程序的編寫27-29
- 3.2.3 正常梯度改正方法29-32
- 3.2.4 高度改正32-33
- 3.3 本章小結(jié)33-35
- 第4章 坐標(biāo)變換35-41
- 4.1 三種坐標(biāo)類型35-36
- 4.2 坐標(biāo)變換方法36-40
- 4.3 本章小結(jié)40-41
- 第5章 磁異常解釋41-56
- 5.1 不同磁緯度(磁傾角)環(huán)境下典型目標(biāo)體磁異常形態(tài)41-49
- 5.2 目標(biāo)體材料(磁化率)的影響規(guī)律49-53
- 5.3 目標(biāo)體埋深的影響規(guī)律53-55
- 5.4 本章小結(jié)55-56
- 第6章 預(yù)處理軟件的設(shè)計(jì)56-61
- 6.1 軟件介紹56-57
- 6.2 實(shí)際處理結(jié)果57-60
- 6.3 本章小結(jié)60-61
- 第7章 總結(jié)與展望61-62
- 7.1 總結(jié)61
- 7.2 展望61-62
- 參考文獻(xiàn)62-65
- 作者簡(jiǎn)介及科研成果65-66
- 致謝66
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):1087578
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