TFT-LCD殘影不良的研究與改善
發(fā)布時(shí)間:2017-09-20 22:20
本文關(guān)鍵詞:TFT-LCD殘影不良的研究與改善
更多相關(guān)文章: 殘影 扭曲向列型 配向弱區(qū) 內(nèi)部電場(chǎng)
【摘要】:影像殘留是TFT-LCD,特別是TN型產(chǎn)品常見(jiàn)的不良,對(duì)產(chǎn)品良率影響很大。本文從產(chǎn)品設(shè)計(jì)、工藝參數(shù)、工藝管控3個(gè)方面對(duì)殘影進(jìn)行分析。發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)Data線兩側(cè)段差過(guò)大,是導(dǎo)致殘影發(fā)生的主要原因,通過(guò)增加配向膜厚度和摩擦強(qiáng)度值可以有效降低殘影,實(shí)驗(yàn)得出配向膜膜厚高于110nm,摩擦強(qiáng)度高于5.5N·m時(shí)無(wú)殘影發(fā)生。通過(guò)控制配向膜工程與摩擦工程間的延遲時(shí)間在5h,摩擦工程與對(duì)盒工程間的延遲時(shí)間在10h,并且嚴(yán)格管控ITO偏移量可以有效減少Panel內(nèi)部電場(chǎng),從而降低殘影。通過(guò)以上措施,對(duì)于15.6HD產(chǎn)品,良率提升了10%,為企業(yè)高效生產(chǎn)奠定基礎(chǔ)。
【作者單位】: 合肥鑫晟光電科技有限公司;
【關(guān)鍵詞】: 殘影 扭曲向列型 配向弱區(qū) 內(nèi)部電場(chǎng)
【分類號(hào)】:TN873.93
【正文快照】: (Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co.Ltd,Hefei 230012,China)1引言伴隨著顯示科技的發(fā)展,液晶顯示器(LCD)以其低工作電壓、低功耗、低輻射、以及輕薄美觀等優(yōu)勢(shì),為大眾所喜愛(ài),已成為市場(chǎng)的主流[1-2]。隨著人們對(duì)液晶顯示器認(rèn)知度的逐漸提高,對(duì)于顯示性能也提出了,
本文編號(hào):890727
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