本文關(guān)鍵詞：LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化評估及測試方法研究

  更多相關(guān)文章： LED驅(qū)動(dòng)電源 性能退化 SSADT 回歸模型 壽命預(yù)測

【摘要】：隨著LED技術(shù)的快速發(fā)展,LED燈具已廣泛應(yīng)用于家居照明、道路照明、工業(yè)照明及商業(yè)照明等領(lǐng)域,其壽命也越來越受到人們的關(guān)注。在與企業(yè)合作的過程中,發(fā)現(xiàn)目前LED產(chǎn)品壽命測試方面存在以下問題:老化試驗(yàn)測試時(shí)間過長、多以光源的壽命作為整燈的壽命而忽略了LED驅(qū)動(dòng)電源壽命對整燈壽命的影響等。針對上述問題,課題以室內(nèi)LED燈具的驅(qū)動(dòng)電源作為獨(dú)立研究對象,研究了基于性能退化的LED驅(qū)動(dòng)電源壽命預(yù)測相關(guān)技術(shù),主要完成了以下工作:針對產(chǎn)品溫度應(yīng)力加速退化試驗(yàn)基礎(chǔ)薄弱,分析了關(guān)鍵元器件性能退化機(jī)理,重點(diǎn)分析了溫度對LED照明產(chǎn)品驅(qū)動(dòng)電路中各元器件的影響,在PSpice仿真環(huán)境下分析了表征電源退化的性能參數(shù)。通過對幾類加速退化試驗(yàn)方案的比較研究,建立了針對LED驅(qū)動(dòng)電源的溫度步進(jìn)應(yīng)力加速退化試驗(yàn)(SSADT)方案,以試驗(yàn)費(fèi)用為約束條件,在試驗(yàn)應(yīng)力水平、試驗(yàn)時(shí)間和樣品數(shù)量等方面對試驗(yàn)方案進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)。針對實(shí)際LED驅(qū)動(dòng)電源的具體規(guī)格和性能退化特性,搭建了性能退化參數(shù)監(jiān)測實(shí)驗(yàn)平臺(tái),根據(jù)獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),確定了電源正常工作時(shí)的應(yīng)力水平和表征其退化的性能參數(shù)�；诨貧w模型進(jìn)行電源退化性能分析與描述,建立了退化模型和加速模型,基于定量計(jì)算,對LED驅(qū)動(dòng)電源做了性能退化評估,獲得了LED電源壽命預(yù)測值和可靠度曲線。上述開發(fā)的LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化參數(shù)測試系統(tǒng)和提出的溫度步進(jìn)應(yīng)力加速退化試驗(yàn)方法,可在較短時(shí)間內(nèi)完成對LED驅(qū)動(dòng)電源的壽命預(yù)測,為LED整燈壽命預(yù)測提供了一種可供借鑒參考的途徑。
【關(guān)鍵詞】：LED驅(qū)動(dòng)電源 性能退化 SSADT 回歸模型 壽命預(yù)測
【學(xué)位授予單位】：重慶大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TM923.34;TN86
【目錄】：

• 中文摘要3-4
• 英文摘要4-8
• 1 緒論8-13
• 1.1 課題背景及意義8-9
• 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀9-12
• 1.2.1 驅(qū)動(dòng)電源性能退化研究現(xiàn)狀9-10
• 1.2.2 性能退化評估方法研究現(xiàn)狀10-11
• 1.2.3 現(xiàn)狀分析11-12
• 1.3 本文主要研究工作12
• 1.4 本章小結(jié)12-13
• 2 LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化研究13-26
• 2.1 引言13
• 2.2 LED驅(qū)動(dòng)電源基本原理13-14
• 2.3 LED電源主要元器件性能退化研究14-19
• 2.3.1 鋁電解電容性能退化分析15-16
• 2.3.2 功率MOSFET性能退化分析16-17
• 2.3.3 電阻器性能退化分析17-18
• 2.3.4 功率二極管性能退化分析18-19
• 2.4 LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化分析19-25
• 2.4.1 電路仿真平臺(tái)及參數(shù)設(shè)置19-22
• 2.4.2 電路性能退化分析22-24
• 2.4.3 電路特征參數(shù)分析24-25
• 2.5 本章小結(jié)25-26
• 3 LED驅(qū)動(dòng)電源試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)26-34
• 3.1 引言26
• 3.2 加速退化試驗(yàn)概述26-28
• 3.2.1 加速退化試驗(yàn)的提出26-27
• 3.2.2 加速退化試驗(yàn)分類比較27-28
• 3.3 SSADT試驗(yàn)方法理論28-30
• 3.3.1 SSADT試驗(yàn)方法29-30
• 3.3.2 SSADT試驗(yàn)基本假設(shè)30
• 3.4 SSADT試驗(yàn)方案30-32
• 3.4.1 應(yīng)力類型選擇30
• 3.4.2 應(yīng)力水平上下限確定30-31
• 3.4.3 樣本個(gè)數(shù)與應(yīng)力轉(zhuǎn)換時(shí)間確定31-32
• 3.4.4 試驗(yàn)方案的確定32
• 3.5 本章小結(jié)32-34
• 4 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)及數(shù)據(jù)分析34-46
• 4.1 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)概述34-36
• 4.1.1 LED燈具34-35
• 4.1.2 恒溫箱35-36
• 4.2 系統(tǒng)總體方案設(shè)計(jì)36-43
• 4.2.1 系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)37-42
• 4.2.2 系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)42-43
• 4.3 實(shí)驗(yàn)及數(shù)據(jù)分析43-45
• 4.3.1 正常溫度應(yīng)力S0測量43
• 4.3.2 退化數(shù)據(jù)分析43-45
• 4.4 本章小結(jié)45-46
• 5 LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化評估46-55
• 5.1 引言46
• 5.2 壽命評估基本流程46
• 5.3 統(tǒng)計(jì)模型建立與分析46-53
• 5.3.1 模型擬合46-50
• 5.3.2 偽失效壽命計(jì)算50-51
• 5.3.3 偽失效壽命分布假設(shè)檢驗(yàn)51-52
• 5.3.4 加速模型擬合52-53
• 5.4 性能退化評估53-54
• 5.4.1 平均壽命53
• 5.4.2 可靠度曲線53-54
• 5.5 本章小結(jié)54-55
• 6 結(jié)論與展望55-57
• 6.1 結(jié)論55
• 6.2 展望55-57
• 致謝57-58
• 參考文獻(xiàn)58-61
• 附錄61
• A. 作者在攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的論文或?qū)＠?/span>61
• B. 作者在攻讀碩士學(xué)位期間取得的工作成果目錄61

【參考文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 肖承地;劉春軍;劉衛(wèi)東;趙志偉;劉桂平;;基于加速性能退化的LED燈具可靠性評估[J];發(fā)光學(xué)報(bào);2014年09期

2 高麗娜;趙領(lǐng);;溫度應(yīng)力下基于步進(jìn)加速退化試驗(yàn)的電子器件壽命預(yù)測[J];電子元件與材料;2014年06期

3 卓紅艷;金曉;孟凡寶;劉志強(qiáng);李旭;;一種系統(tǒng)壽命分析評估方法[J];工業(yè)控制計(jì)算機(jī);2013年07期

4 和倩;趙敏;徐立生;;LED應(yīng)用產(chǎn)品的平均壽命評估方法[J];微納電子技術(shù);2013年07期

5 彭寶華;周經(jīng)倫;潘正強(qiáng);;Wiener過程性能退化產(chǎn)品可靠性評估的Bayes方法[J];系統(tǒng)工程理論與實(shí)踐;2010年03期

6 周真;侯長劍;王芳;王麗杰;;基于BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的開關(guān)電源可靠性預(yù)計(jì)[J];電測與儀表;2009年01期

7 段毅;馬衛(wèi)東;呂長志;李志國;;基于參數(shù)退化法評價(jià)功率肖特基二極管壽命[J];半導(dǎo)體技術(shù);2009年01期

8 劉合財(cái);吳映程;趙明;;加速壽命試驗(yàn)與加速退化試驗(yàn)的比較分析[J];貴陽學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2008年04期

9 鄧愛民;陳循;張春華;汪亞順;;加速退化試驗(yàn)技術(shù)綜述[J];兵工學(xué)報(bào);2007年08期

10 李健;汪金華;陸陪永;;溫度步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)研究[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2007年01期

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 蔡金燕;電子裝備系統(tǒng)性能可靠性分析與評估研究[D];南京理工大學(xué);2010年

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前5條

1 李享;LED驅(qū)動(dòng)電源性能退化參數(shù)監(jiān)測及壽命預(yù)測方法研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2012年

2 陳妤;電力電子電路參數(shù)辨識(shí)新方法與故障預(yù)測算法研究[D];南京航空航天大學(xué);2012年

3 周慧德;開關(guān)電源中鋁電解電容可靠性的研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2010年

4 陳鴻;快恢復(fù)二極管及緩沖層結(jié)構(gòu)特性研究[D];華中科技大學(xué);2009年

5 李仁山;熱循環(huán)條件下金屬膜電阻器的性能退化表征[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2007年

，

本文編號(hào)：827138