本文選題：單基測(cè)向 + 相差變化率��； 參考：《現(xiàn)代導(dǎo)航》2016年06期

【摘要】：利用單基中點(diǎn)相差測(cè)向式可導(dǎo)出了適用于任意基線長(zhǎng)度的相差變化率測(cè)距式,利用相差變化率的多通道檢測(cè)方式,可將相差變化率測(cè)距式改寫成基于程差差分的函數(shù)。在此基礎(chǔ)上,可導(dǎo)出對(duì)應(yīng)于長(zhǎng)短基線的單位長(zhǎng)度上程差差分函數(shù)的比例關(guān)系式,由此就能利用短基線一維雙基陣列的程差測(cè)量值遞推得到基于虛擬長(zhǎng)基線的一維雙基陣列的幾何參量,由此還能實(shí)現(xiàn)基于虛擬長(zhǎng)基線的定位測(cè)量。
[Abstract]:By using the single-base midpoint phase difference direction finding formula, the ranging formula of the phase difference change rate suitable for any baseline length can be derived. By using the multi-channel detection method of the phase change rate, the phase difference rate ranging formula can be rewritten into a function based on the range difference. On this basis, the proportional expression of the difference function corresponding to the unit length of the long and short baselines can be derived. Thus, the geometric parameters of one-dimensional bistatic arrays based on virtual long baselines can be obtained by using the range difference measurements of short baseline one-dimensional bistatic arrays, and the positioning measurement based on virtual long baselines can also be realized.
【作者單位】： 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十一研究所;
【分類號(hào)】：TN95

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本文編號(hào)：2113686