本文選題：容性耦合夾 + 多導(dǎo)體傳輸線　； 參考：《西安電子科技大學(xué)學(xué)報》2017年02期

【摘要】：為深入分析電子設(shè)備電磁敏感度測試中的容性脈沖干擾耦合方法,利用多導(dǎo)體傳輸線理論建立了耦合裝置的計算模型及其方程.針對模型各部分不同的物理特性,結(jié)合使用解析、數(shù)值計算和實驗數(shù)據(jù)推導(dǎo)的方法,獲得了其各自的單位長度參數(shù),進而通過參數(shù)整合建立起各部分共地的2n端口傳輸矩陣組合,以及包含激勵源和終端負(fù)載的傳輸線方程組.驗證實驗表明,基于多導(dǎo)體傳輸線模型的計算結(jié)果與實驗結(jié)果符合較好,該模型可用于預(yù)測容性耦合試驗在電子設(shè)備端口產(chǎn)生的脈沖干擾強度及波形.
[Abstract]:In order to deeply analyze the capacitive pulse interference coupling method in the electromagnetic sensitivity test of electronic equipment, the calculation model and equation of the coupling device are established by using the multi-conductor transmission line theory. According to the different physical characteristics of each part of the model, the unit length parameters are obtained by using analytical, numerical and experimental data derivation methods. Then the 2n port transmission matrix combination of each part and the transmission line equations including excitation source and terminal load are established by parameter integration. The experimental results show that the calculated results based on the multi-conductor transmission line model are in good agreement with the experimental results. The model can be used to predict the pulse interference intensity and waveform generated by the capacitive coupling test at the electronic device ports.
【作者單位】： 西安電子科技大學(xué)物理與光電工程學(xué)院;西北核技術(shù)研究所強脈沖輻射環(huán)境模擬與效應(yīng)國家重點實驗室;
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項目(51107102)
【分類號】：TN811

【參考文獻】

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【共引文獻】

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【二級參考文獻】

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本文編號：1910742