本文關(guān)鍵詞：APD陣列成像激光雷達(dá)精確測(cè)時(shí)電路研究　出處：《中國(guó)科學(xué)院研究生院(光電技術(shù)研究所)》2016年碩士論文　論文類型：學(xué)位論文

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【摘要】：三維成像激光雷達(dá)因其激光技術(shù)固有的優(yōu)勢(shì),比傳統(tǒng)微波雷達(dá)抗干擾性更強(qiáng),圖像分辨率更高,并且能做到體積更小、重量更低,所以在雷達(dá)領(lǐng)域越來越受到重視。由于國(guó)際產(chǎn)品和技術(shù)封鎖的原因,國(guó)內(nèi)早期的三維成像激光雷達(dá)研究沒有重視APD陣列的開發(fā)應(yīng)用,大多采用單點(diǎn)掃描或者對(duì)ICCD、CMOS等面陣圖像傳感器進(jìn)行增益調(diào)制來得到三維距離信息。由于增益調(diào)制技術(shù)目前還沒有找到很好的提高信噪比的方法,遠(yuǎn)距離圖像質(zhì)量無法達(dá)到APD陣列距離像的水平。本論文所介紹的APD陣列成像激光雷達(dá)就是運(yùn)用APD陣列的高增益特性,以線陣APD脈沖測(cè)距和單向掃描的方式實(shí)現(xiàn)三維成像。該系統(tǒng)利用34路APD線陣接收脈沖激光回波,通過時(shí)間測(cè)量電路分系統(tǒng)對(duì)每一路信號(hào)進(jìn)行時(shí)間測(cè)量,得到二維距離線陣,再通過一維掃描最終反算出三維圖像。本文圍繞該系統(tǒng)的時(shí)間測(cè)量分系統(tǒng)的工作原理、電路設(shè)計(jì)、實(shí)驗(yàn)結(jié)果和信號(hào)誤差等方面,進(jìn)行了詳細(xì)的闡述和分析,提供了很多有價(jià)值的工程經(jīng)驗(yàn)和實(shí)驗(yàn)結(jié)果。本論文課題的研究主要有五項(xiàng)內(nèi)容:一是通過介紹APD陣列三維成像激光雷達(dá)相關(guān)技術(shù)的國(guó)內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀和技術(shù)特點(diǎn),闡明本課題研究的價(jià)值;二是闡述總系統(tǒng)和測(cè)時(shí)分系統(tǒng)的工作原理和方案;三是介紹本課題的硬件電路設(shè)計(jì)的各關(guān)鍵技術(shù)細(xì)節(jié);四是詳細(xì)說明了本課題FPGA的程序設(shè)計(jì)工作;五是對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行全面的誤差分析。
【學(xué)位授予單位】：中國(guó)科學(xué)院研究生院(光電技術(shù)研究所)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TN958.98

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本文編號(hào)：1315877