本文關鍵詞：基于雙線性插值最值濾波的Mura改善方法

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【摘要】：為改善液晶面板的Mura缺陷,提出了一種灰度補償校正Mura缺陷的方法.針對典型灰度級的亮度分布矩陣,采用雙線性插值最值濾波法進行圖像濾波,計算全屏目標亮度,根據(jù)各像素點擬合出的亮度-灰度關系曲線,得到各灰度級的補償數(shù)據(jù).實驗結果表明,經(jīng)過Mura補償,55英寸的液晶模組上顯示灰度圖像的Mura條紋消失,Mura指數(shù)降低,且補償并未對屏幕總體亮度和對比度等造成明顯改變.
【作者單位】： 西安交通大學電子與信息工程學院電子物理與器件教育部重點實驗室;深圳市華星光電技術有限公司;
【基金】：國家自然科學基金(No.61372018)資助~~
【分類號】：TN873.93
【正文快照】： 0引言隨著液晶面板(Liquid Crystal Display,LCD)尺寸的增大,Mura缺陷出現(xiàn)的幾率和對圖像質量的影響顯著增加.Mura缺陷的特點是出現(xiàn)在面板上的位置隨機,沒有固定形狀,邊緣模糊,與周圍區(qū)域的亮度差異較小.Mura缺陷產(chǎn)生的原因主要是電路或面板結構上的缺陷、材料特性的不均勻,以

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本文編號：1152302