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異常渦旋光束的拓撲荷的測量

發(fā)布時間:2024-02-01 07:31
  提出了一種測量異常渦旋光束的拓撲荷的方法。在接收孔徑之前放置一個特殊樣式的掩膜板,通過接收平面的光強圖來分辨異常渦旋光束的拓撲荷值。首先采用理論推導的方法得出接收平面光強分布的解析式,然后通過數(shù)值仿真得出光強圖。研究表明,接收平面上的強度分布圖為多環(huán)結構,環(huán)數(shù)與異常渦旋光束的拓撲荷值有關,而與光束階數(shù)無關。研究成果對于促進異常渦旋光束的應用具有重要意義。

【文章頁數(shù)】:4 頁

【部分圖文】:

圖4.2異常貝塞爾渦旋光束的實驗產生及測量裝置??

圖4.2異常貝塞爾渦旋光束的實驗產生及測量裝置??

第四章渦旋光束的拓撲荷/OAM傳輸?禍旋光束相干調控、傳輸及應用基礎研宄??f?cc〇??LASER?NBgP?’?電荷耦合器??激光器?be?wi?bs2?rn/m??擴束鏡?^??slmx?卜-、?■mm??空間光調繼?BS、':、、、^^??分束?k?'、 ̄^7pa??光束....


圖1掩模板圖樣

圖1掩模板圖樣

其中,rq=qaQ;?l=(l-1)2πL;a為最外層環(huán)的半徑。當異常渦旋光束u0照射這個掩模板時,根據(jù)夫瑯各費衍射公式可知,觀察面上強度分布為:


圖2接收平面的光強圖

圖2接收平面的光強圖

圖2是不同拓撲荷值的異常渦旋光束在自由空間中傳輸了z0距離后再穿過掩模板后的強度圖。由仿真結果可以得出,光強圖為環(huán)狀結構,而且拓撲荷值不同,對應的光強圖的環(huán)數(shù)不同。如本圖中光環(huán)數(shù)為4時,對應于拓撲荷為1,光環(huán)數(shù)為2時,對應拓撲荷為2,依次遞減。因此,只要根據(jù)接收面上的光強圖的環(huán)數(shù)....


圖3m=0時接收平面的光強圖

圖3m=0時接收平面的光強圖

若異常渦旋光束的拓撲荷值為零時,所得光強圖(圖3所示)中心不是暗芯,而為一個亮斑。因此此時無需通過環(huán)數(shù)來判斷拓撲荷,由亮斑便可知拓撲荷為零。4結論



本文編號:3891782

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