基于數字全息術的近場成像與應用
發(fā)布時間:2021-08-16 20:38
近場是指局域在物體表面附近亞波長范圍內的空間區(qū)域。倏逝波存在于近場區(qū)域,可利用其與物質的相互作用特性對位于近場區(qū)域的某些介質樣品進行高分辨率成像,及對樣品物性變化進行高靈敏度測量,其中,基于全內反射和表面等離子體共振的近場成像與測量方法已在許多領域獲得廣泛應用。將數字全息術與這類近場測量方法相結合,可進一步有效解決自近場區(qū)域反射光波的相位分布的高精度全場動態(tài)測量問題。重點介紹基于全內反射數字全息術和表面等離子體共振全息顯微術的近場成像方法與測量應用研究進展。
【文章來源】:光學學報. 2020,40(01)北大核心EICSCD
【文章頁數】:17 頁
【部分圖文】:
直角棱鏡-電介質界面處的全反射
TIR相移φ隨電介質折射率n2變化的理論曲線
在利用TIR數字全息術測量電介質樣品折射率n2(x,y)的基礎上,進一步引入透射式數字全息顯微術(DHM),利用介質對透射光波相位的調制原理,還可同時獲得待測介質的幾何厚度h(x,y)[73],可表示為圖4 不同質量分數的甘油-水混合溶液引起的反射光波的相位差分布實驗測量結果[72]。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]數字全息顯微術中重建物場波前的相位校正[J]. 邸江磊,趙建林,范琦,姜宏振,孫偉偉. 光學學報. 2008(01)
本文編號:3346352
【文章來源】:光學學報. 2020,40(01)北大核心EICSCD
【文章頁數】:17 頁
【部分圖文】:
直角棱鏡-電介質界面處的全反射
TIR相移φ隨電介質折射率n2變化的理論曲線
在利用TIR數字全息術測量電介質樣品折射率n2(x,y)的基礎上,進一步引入透射式數字全息顯微術(DHM),利用介質對透射光波相位的調制原理,還可同時獲得待測介質的幾何厚度h(x,y)[73],可表示為圖4 不同質量分數的甘油-水混合溶液引起的反射光波的相位差分布實驗測量結果[72]。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]數字全息顯微術中重建物場波前的相位校正[J]. 邸江磊,趙建林,范琦,姜宏振,孫偉偉. 光學學報. 2008(01)
本文編號:3346352
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