發(fā)布時間：2021-04-01 17:27

　　光學測試技術是一種全場、非接觸的無損測量方法,目前被廣泛地應用于科學研究和工程領域中。在大多數光學測試技術中,由于被測物理量與光學相位相關,并以條紋圖或相位圖的形式表示測量結果,所以準確地提取相位信息是光學測試技術應用的關鍵。然而,從不連續(xù)的光條紋圖中提取相位一直是一個具有挑戰(zhàn)性的問題。本文主要針對不連續(xù)光條紋圖相位提取中的關鍵問題進行深入地研究,具體包括基于空間域的不連續(xù)光條紋圖濾波方法、基于頻域的不連續(xù)相位圖濾波方法和基于方向一致性的不連續(xù)相位圖解包裹方法的研究。本文的主要研究內容如下:（1）針對不連續(xù)光條紋圖的空間濾波方法的研究,本文從空間域的角度提出了自適應方向偏微分方程（Partial Differential Equation,PDE）濾波模型。條紋方向的一致性可以用來識別條紋的連續(xù)區(qū)域和不連續(xù)區(qū)域,所以本人把控制速度函數定義為條紋方向一致性的函數。該控制速度函數可以增加條紋連續(xù)區(qū)域的濾波程度,而減少條紋不連續(xù)區(qū)域的濾波程度。實驗結果表明,提出的模型濾除噪聲的同時能夠有效地保持條紋的不連續(xù)性。（2）針對不連續(xù)相位圖的頻域濾波方法的研究,本文從頻域的角度提出了一種基于剪切波變... 

【文章來源】：天津大學天津市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數】：80 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

三幅實驗獲得的不連續(xù)光條紋圖

天津大學碩士學位論文位不連續(xù)等因素所造成的殘差點給包裹相測殘差點的情況下用積分路徑對包裹相位播。為解決此問題，Goldstein 等人提出了可以用來標識這些相位不可靠的區(qū)域。在如頭方向對相鄰兩點的相位差進行包裹運算：1 , 1 , 2 1, 1 , 13 1, 1, 1 4 , 1,,,i j i j i j i ji j i j i j i jW WW W 子，對任意0a 有： 0 0 0W a a 2 K , W a

(c) , 0,1 i j (d) , 0,0i j 圖 2-2 圖的構造噪聲的情況下，基于圖切割的相位解包裹方法可以得到較嚴重噪聲的情況下，該方法會出現區(qū)域性的解包裹錯誤。比較復雜的情況下，該方法的良好效果須以犧牲時間為代價小結首先介紹了相位解包裹的基本原理，以及殘差點和質量圖幾種常用的相位解包裹方法，這些方法主要包括Goldstein 法、最小范數法和基于圖切割的相位解包裹方法。通過描了每種方法的具體實現流程和優(yōu)缺點。

【參考文獻】：
期刊論文
[1]基于改進粒子群算法的二維相位解纏方法[J]. 張妍,馮大政,曲小寧.  電波科學學報. 2012(06)
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[3]TSP理論在二維相位解纏的應用[J]. 曲小寧,馮大政,張妍,薛海偉.  系統(tǒng)工程與電子技術. 2011(04)
[4]基于光柵投影的輪廓測量改進方法[J]. 程音,于德敏,許增樸,王永強.  應用光學. 2008(04)
[5]A new quality map for quality-guided phase unwrapping[J]. 路元剛,王向朝,鐘向紅,何國田,劉英明,鄭德鋒.  Chinese Optics Letters. 2004(12)

碩士論文
[1]基于質量圖的相位展開方法研究[D]. 張曉秋.哈爾濱工業(yè)大學 2010



本文編號：3113707