為了能夠更好地實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶光學(xué)相控陣的移相分布特性進(jìn)行高精度的測(cè)量,本文針對(duì)傅里葉四分之一波片法的測(cè)試精度進(jìn)行理論仿真和試驗(yàn)驗(yàn)證。仿真結(jié)果表明,該方法測(cè)試誤差小于0.08°,采用標(biāo)準(zhǔn)二分之一波片對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明重復(fù)精度小于0.3°。因此,針對(duì)液晶光學(xué)相控陣波控?cái)?shù)據(jù)0.5°移相控制精度要求,傅里葉四分之一波片法的測(cè)試精度和重復(fù)精度能夠滿足移相測(cè)量精度要求。 

【文章來(lái)源】：液晶與顯示. 2017,32(01)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：6 頁(yè)

【文章目錄】：
1 引言
2 理論
    2.1 系統(tǒng)光路與檢測(cè)原理
    2.2 精度分析
        2.2.1 隨機(jī)功率誤差ri
        2.2.2 步進(jìn)角度
3 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
4 結(jié)論



本文編號(hào)：3042008