本文關(guān)鍵詞：開關(guān)電源控制芯片可測性電路的設(shè)計(jì)

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【摘要】：開關(guān)式電源已成為便攜式電子設(shè)備的主要供電電源,其中控制芯片是其核心部件。隨著集成度的不斷提高,控制芯片在制造過程中引入的故障兒率很高,測試問題變得越來越復(fù)雜,導(dǎo)致測試開銷在總開銷中所占的比例越來越高。為了快速有效地檢測控制芯片中的缺陷,同時(shí)降低測試的成本和周期,需要對開關(guān)電源的可測性設(shè)計(jì)展開研究。本文分析了PSR數(shù)字開關(guān)電源控制芯片可測性技術(shù)的發(fā)展情況及設(shè)計(jì)方法,并結(jié)合開關(guān)電源控制芯片自身的特點(diǎn),提出了一套適用于開關(guān)電源控制芯片的測試方案。接著研究了實(shí)際使用中可能存在的各種干擾,并針對這些干擾設(shè)計(jì)了切實(shí)有效的濾除干擾措施。為了不增加端口成本,將端口復(fù)用技術(shù)應(yīng)用在開關(guān)電源控制芯片的可測性設(shè)計(jì)中。同時(shí)復(fù)用技術(shù)也應(yīng)用在測試模式電路設(shè)計(jì)中,利用芯片中現(xiàn)有的電路實(shí)現(xiàn)測試模式的功能,提高了電路的利用率,減少了測試電路的面積。此外,論文還研究了降低測試周期的有效方法。最后根據(jù)一款開關(guān)電源控制芯片的測試指標(biāo)要求,設(shè)計(jì)了一種測試電路和具體版圖,測試電路的面積為11869.8pm2。仿真驗(yàn)證表明：測試模式的最長鏈長為36萬個(gè)矢量單位,采用兩組測試向量,故障覆蓋率為大于96%,實(shí)現(xiàn)對時(shí)鐘和復(fù)位信號實(shí)時(shí)控制。仿真結(jié)果還顯示論文所設(shè)計(jì)的測試電路能有效抵御外界干擾,確保了測試電路正常工作。另外,本測試電路還預(yù)留了測試模式擴(kuò)展口,這將使本設(shè)計(jì)具有更好的靈活性和兼容性。
【關(guān)鍵詞】：PSR開關(guān)電源控制芯片 故障覆蓋率 可測性設(shè)計(jì) 端口復(fù)用 測試模式 計(jì)時(shí)濾波器
【學(xué)位授予單位】：東南大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：TN86
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 第一章 緒論8-12
• 1.1. 課題背景介紹8-9
• 1.2. 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀9-10
• 1.3. 研究內(nèi)容10-11
• 1.4. 論文組織結(jié)構(gòu)11-12
• 第二章 開關(guān)電源控制芯片可測性技術(shù)綜述12-22
• 2.1. 可測性技術(shù)12-15
• 2.2. 開關(guān)電源控制芯片可測性技術(shù)15-16
• 2.3. 故障模型16-19
• 2.4. PSR開關(guān)電源控制芯片常見故障19-20
• 2.5. 小結(jié)20-22
• 第三章 開關(guān)電源控制芯片可測性設(shè)計(jì)原理分析22-32
• 3.1. 開關(guān)電源控制芯片端口復(fù)用方法22-24
• 3.2. 測試模式端口復(fù)用原理24-26
• 3.3. 測試模式保護(hù)機(jī)制26-28
• 3.4. 常見測試指標(biāo)要求28-30
• 3.5. 測試模式工作流程30-31
• 3.6. 小結(jié)31-32
• 第四章 測試模式電路設(shè)計(jì)32-44
• 4.1. 測試電路主要功能模塊32-34
• 4.2. 觸發(fā)測試模式電路設(shè)計(jì)及仿真34-38
• 4.3. 測試模式跳變電路設(shè)計(jì)及仿真38-41
• 4.4. 測試結(jié)果輸出電路設(shè)計(jì)41-42
• 4.5. 時(shí)鐘可控電路設(shè)計(jì)及仿真42-43
• 4.6. 小結(jié)43-44
• 第五章 測試模式工作狀態(tài)設(shè)計(jì)44-60
• 5.1.測試模式切換期間測試內(nèi)容44-45
• 5.2. 各模式測試內(nèi)容45-52
• 5.3. 前仿真設(shè)計(jì)結(jié)果52-54
• 5.4. 版圖設(shè)計(jì)54-58
• 5.5. 設(shè)計(jì)指標(biāo)和后仿真結(jié)果對比58-59
• 5.6. 小結(jié)59-60
• 第六章 總結(jié)與展望60-62
• 6.1. 總結(jié)60
• 6.2. 展望60-62
• 參考文獻(xiàn)62-64

【參考文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前8條

1 王厚軍;;可測性設(shè)計(jì)技術(shù)的回顧與發(fā)展綜述[J];中國科技論文在線;2008年01期

2 楊虹;徐超強(qiáng);侯華敏;;基于邊界掃描技術(shù)的集成電路可測性設(shè)計(jì)[J];重慶郵電學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2006年06期

3 邱航;王成華;;基于內(nèi)建自測試的偽隨機(jī)測試向量生成方法[J];淮陰師范學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2006年03期

4 趙紅軍,楊日杰,崔坤林,崔旭濤,王小華;邊界掃描測試技術(shù)的原理及其應(yīng)用[J];現(xiàn)代電子技術(shù);2005年11期

5 謝正光;集成電路測試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)研究與探討[J];微電子學(xué);2004年03期

6 溫熙森,胡政,易曉山,楊擁民;可測試性技術(shù)的現(xiàn)狀與未來[J];測控技術(shù);2000年01期

7 夏宇聞;一種高層次的支持模擬和數(shù)�；旌闲盘栯娐放c系統(tǒng)設(shè)計(jì)的語言Verilog-A/AMS[J];電子技術(shù)應(yīng)用;1999年08期

8 韓繼國;循環(huán)移位可編程序邏輯陣列的可測試性設(shè)計(jì)[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);1993年09期

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 李杰;低功耗內(nèi)建自測試（BIST）設(shè)計(jì)技術(shù)的研究[D];東南大學(xué);2004年

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前3條

1 江麗君;數(shù)字集成電路故障模型研究及故障注入平臺設(shè)計(jì)[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2013年

2 李蕙;數(shù)字電路橋接故障的測試與診斷[D];浙江大學(xué);2010年

3 謝明恩;可測試性設(shè)計(jì)技術(shù)及應(yīng)用研究[D];南京航空航天大學(xué);2007年

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本文編號：710278