高速線纜組件插入損耗優(yōu)化技術(shù)研究
發(fā)布時(shí)間:2021-11-23 06:12
插入損耗是高速線纜組件的關(guān)鍵性能指標(biāo)。因此,分析影響高速線纜組件插入損耗的關(guān)鍵因素,借助仿真軟件優(yōu)化組件的插入損耗,并通過實(shí)物測試驗(yàn)證了優(yōu)化后的結(jié)果。驗(yàn)證結(jié)果表明:選用低損耗因子的線纜、優(yōu)化接線板出線及焊盤大小參數(shù)、選用厚度在1.0 mm以下的鋼網(wǎng)等,可顯著降低高速線纜組件的插入損耗,且所形成的設(shè)計(jì)方法可用于高速線纜組件的插入損耗優(yōu)化。
【文章來源】:通信技術(shù). 2020,53(11)
【文章頁數(shù)】:9 頁
【部分圖文】:
一種線纜結(jié)構(gòu)
常見的二端口網(wǎng)絡(luò)
在高速傳輸領(lǐng)域,導(dǎo)體損耗主要與趨膚效應(yīng)和導(dǎo)體表面粗糙度有關(guān)。高頻電流流過導(dǎo)體時(shí),導(dǎo)線電阻在交流情況下處于一種頻變狀態(tài)。隨著頻率的升高,電流集中在導(dǎo)體表面?zhèn)鬏,?dǎo)致阻抗升高,導(dǎo)體損耗增加。高頻時(shí),銅的趨膚深度如圖3所示。它的計(jì)算公式如下:
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]差分對內(nèi)偏斜對25 Gbps背板信號完整性的影響分析[J]. 胡軍,李晉文,曹躍勝,楊安毅,張偉. 計(jì)算機(jī)工程與科學(xué). 2014(12)
[2]基于TDR技術(shù)的連接器高速傳輸性能測試[J]. 趙宇萍,劉治國. 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2012(S1)
碩士論文
[1]基于背板系統(tǒng)的PCI Express傳輸鏈路設(shè)計(jì)與SI仿真技術(shù)研究[D]. 王曌偉.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2012
本文編號:3513293
【文章來源】:通信技術(shù). 2020,53(11)
【文章頁數(shù)】:9 頁
【部分圖文】:
一種線纜結(jié)構(gòu)
常見的二端口網(wǎng)絡(luò)
在高速傳輸領(lǐng)域,導(dǎo)體損耗主要與趨膚效應(yīng)和導(dǎo)體表面粗糙度有關(guān)。高頻電流流過導(dǎo)體時(shí),導(dǎo)線電阻在交流情況下處于一種頻變狀態(tài)。隨著頻率的升高,電流集中在導(dǎo)體表面?zhèn)鬏,?dǎo)致阻抗升高,導(dǎo)體損耗增加。高頻時(shí),銅的趨膚深度如圖3所示。它的計(jì)算公式如下:
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]差分對內(nèi)偏斜對25 Gbps背板信號完整性的影響分析[J]. 胡軍,李晉文,曹躍勝,楊安毅,張偉. 計(jì)算機(jī)工程與科學(xué). 2014(12)
[2]基于TDR技術(shù)的連接器高速傳輸性能測試[J]. 趙宇萍,劉治國. 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2012(S1)
碩士論文
[1]基于背板系統(tǒng)的PCI Express傳輸鏈路設(shè)計(jì)與SI仿真技術(shù)研究[D]. 王曌偉.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2012
本文編號:3513293
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