為探究電沖擊對(duì)電子裝備壽命的影響,選取電源通斷瞬間產(chǎn)生的高壓為電沖擊加速應(yīng)力,并以雷達(dá)某系統(tǒng)功能電路板為研究對(duì)象,開展電應(yīng)力加速退化試驗(yàn)。通過對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析,得到基于性能退化軌跡的偽失效壽命,并在Weibull分布條件下進(jìn)行參數(shù)估計(jì),提出基于電應(yīng)力的電源開關(guān)通斷電加速模型,并實(shí)現(xiàn)對(duì)某型雷達(dá)功能電路板的可靠性評(píng)估。 

【文章來源】：中國測試. 2014,40(05)北大核心

【文章頁數(shù)】：5 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 電沖擊加速退化試驗(yàn)
    1.1 電沖擊應(yīng)力選取
    1.2 加速退化試驗(yàn)方案
2 數(shù)據(jù)分析
    2.1 基于性能退化軌跡的退化數(shù)據(jù)處理
    2.2 威布爾分布下的參數(shù)估計(jì)
3 加速退化模型研究
    3.1 加速模型假設(shè)
    3.2 模型參數(shù)估計(jì)
4 實(shí)例分析
5 結(jié)束語


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于性能退化數(shù)據(jù)的可靠性評(píng)估[J]. 鄧愛民,陳循,張春華,汪亞順.  宇航學(xué)報(bào). 2006(03)

碩士論文
[1]基于反應(yīng)論模型的環(huán)境因子確定方法研究[D]. 胡斌.中國工程物理研究院 2007



本文編號(hào)：3242140