【摘要】：信息化、數(shù)字化是現(xiàn)代戰(zhàn)爭(zhēng)的趨勢(shì),數(shù)字陣列雷達(dá)的先進(jìn)程度對(duì)各國(guó)有著很強(qiáng)的戰(zhàn)略意義,數(shù)字接收機(jī)作為數(shù)字陣列雷達(dá)的重要組成部分,其性能指標(biāo)特別是ADC性能和通道性能對(duì)雷達(dá)的整體性能有很大的影響。這些性能指標(biāo)的測(cè)試也成為接收機(jī)研發(fā)、生產(chǎn)和維護(hù)的必要手段,數(shù)字陣列雷達(dá)接收機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也應(yīng)運(yùn)而生,與傳統(tǒng)的雷達(dá)測(cè)試儀器不同,本課題將要開(kāi)發(fā)一種基于計(jì)算機(jī)軟件的虛擬儀器,系統(tǒng)的整個(gè)測(cè)試工作都在計(jì)算機(jī)中完成,可以降低測(cè)試系統(tǒng)的更新、維護(hù)成本,避免記錄測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)的人為誤差。本課題中的接收機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的主要包括硬件和軟件兩部分,硬件部分的主要工作是將信號(hào)采集板中的數(shù)據(jù)以光接口接收并緩存在DDR中,數(shù)據(jù)通過(guò)cPCI總線(xiàn)傳輸給計(jì)算機(jī),再由軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并將信號(hào)的波形和性能指標(biāo)展現(xiàn)出來(lái),軟件中最多可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)四通道接收機(jī)的數(shù)據(jù)接收、繪圖和指標(biāo)計(jì)算。本文首先介紹了接收機(jī)的原理,由原理引入測(cè)試系統(tǒng)中所需要測(cè)試的性能指標(biāo),包括ADC的動(dòng)態(tài)參數(shù)、靜態(tài)參數(shù)和通道參數(shù),以頻譜分析法設(shè)計(jì)動(dòng)態(tài)參數(shù)和通道參數(shù)的計(jì)算方案,以直方圖統(tǒng)計(jì)法設(shè)計(jì)靜態(tài)參數(shù)的計(jì)算方案,然后從軟件開(kāi)發(fā)的方面介紹測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)以及實(shí)現(xiàn)過(guò)程中涉及到的問(wèn)題,最后給出了整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)在實(shí)現(xiàn)過(guò)程中的成果和測(cè)試圖片。作為一個(gè)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),軟件部分的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)就成為整個(gè)系統(tǒng)中非常重要的工作,文中第四章具體介紹軟件設(shè)計(jì),測(cè)試軟件在Code::Blocks開(kāi)發(fā)軟件中以C++語(yǔ)言實(shí)現(xiàn),使用wxWidgets作為圖形用戶(hù)界面(GUI)庫(kù)。所涉及的工作包括圖形界面的主程序框架搭建、重要參數(shù)的設(shè)置、軟硬件交互模塊、圖形繪制模塊和參數(shù)計(jì)算模塊。在重要參數(shù)的設(shè)置模塊中,緩沖區(qū)長(zhǎng)度可以設(shè)置的范圍從512b到512Kb,緩沖區(qū)長(zhǎng)度設(shè)置越大儲(chǔ)存在硬件DDR中的數(shù)據(jù)越多,軟件中單次繪圖和計(jì)算的數(shù)據(jù)量也越大;在軟硬件交互模塊中,交互過(guò)程中需要執(zhí)行硬件探測(cè),數(shù)據(jù)傳輸和系統(tǒng)自檢等工作,這些工作保證了系統(tǒng)的穩(wěn)定性;圖形繪制模塊可選擇繪制時(shí)域和頻域圖,另外還支持圖形中的Marker、框選、數(shù)據(jù)調(diào)整等功能;參數(shù)計(jì)算及顯示模塊將繪圖模塊中的數(shù)據(jù)以設(shè)計(jì)好的方案計(jì)算并與繪圖模塊同步更新顯示在計(jì)算結(jié)果面板中。
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2014
【分類(lèi)號(hào)】：TN957.5

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前2條

1 陳曾平;張?jiān)?鮑慶龍;;數(shù)字陣列雷達(dá)及其關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)展[J];國(guó)防科技大學(xué)學(xué)報(bào);2010年06期

2 吳曼青;;數(shù)字陣列雷達(dá)及其進(jìn)展[J];中國(guó)電子科學(xué)研究院學(xué)報(bào);2006年01期

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本文編號(hào)：2585530