本文關(guān)鍵詞：某雷達(dá)匯流環(huán)主要電性能參數(shù)分析

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【摘要】：對(duì)某型號(hào)雷達(dá)匯流環(huán)的主要電性能參數(shù)進(jìn)行了實(shí)際測(cè)試,獲得了接觸電阻、絕緣電阻、電介質(zhì)強(qiáng)度的測(cè)試結(jié)果。針對(duì)問(wèn)題產(chǎn)生的原因進(jìn)行了詳細(xì)分析,并提出了相應(yīng)的解決措施。
【作者單位】： 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所;
【基金】：國(guó)防技術(shù)基礎(chǔ)計(jì)劃資助項(xiàng)目(Z312012B001)
【分類號(hào)】：TN957
【正文快照】： 0引言匯流環(huán),也稱滑環(huán),是實(shí)現(xiàn)設(shè)備旋轉(zhuǎn)部分與固定部分之間的電能和信號(hào)穩(wěn)定可靠連接的精密裝置[1]。在匯流環(huán)運(yùn)行過(guò)程中,其性能的好壞將直接影響其工作穩(wěn)定性、可靠性和使用壽命,進(jìn)而影響雷達(dá)總體的工作性能。對(duì)匯流環(huán)進(jìn)行性能參數(shù)的檢測(cè)能夠有效地了解和掌握匯流環(huán)的性能,及

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前4條

1 ;有問(wèn)有答[J];電子技術(shù);1981年11期

2 邵鳳云,霍小平;對(duì) VXIbus 儀器電性能參數(shù)計(jì)量校準(zhǔn)方法探討[J];電測(cè)與儀表;1998年08期

3 ;其他[J];中國(guó)光學(xué)與應(yīng)用光學(xué)文摘;2003年04期

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中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條

1 李巍;基于ANN的探地雷達(dá)淺層目標(biāo)識(shí)別與電性能參數(shù)的反演[D];南昌大學(xué);2012年

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本文編號(hào)：1158952