儀器的本底是空間天文觀測項目實施過程中關注的一個重要內容,對于聚焦型空間X射線望遠鏡,儀器的粒子本底水平直接關系到觀測靈敏度及本底重建的系統(tǒng)誤差.因此,在儀器設計及工程實現(xiàn)迭代過程中,需要確定儀器粒子本底水平,保證其在可接受范圍內.本文發(fā)展了一種基于面密度插值快速估計聚焦型空間X射線望遠鏡粒子本底的方法,該方法同時具有較高的本底估計精度和快的計算速度,適合于在望遠鏡方案設計的早期對各種設計方案的本底屏蔽效果進行快速估計并據此提出優(yōu)化設計的建議,可以大大提高早期方案設計的有效性,對于聚焦型空間高能天文儀器的研制及其他類似領域具有一定的參考意義.

【文章頁數】：10 頁


本文編號：3984647