空間光學(xué)系統(tǒng)是空間光學(xué)遙感相機(jī)的核心。為了實(shí)現(xiàn)空間相機(jī)的大視場(chǎng)、高分辨率以及寬覆蓋的需求,空間光學(xué)系統(tǒng)的口徑和焦距不斷增大。制造相應(yīng)的大口徑空間相機(jī)對(duì)光學(xué)加工手段和高精度檢測(cè)技術(shù)提出了更高的要求�？臻g光學(xué)系統(tǒng)的檢測(cè)是其制造過程中的重要環(huán)節(jié),包括在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下用于系統(tǒng)裝調(diào)的失調(diào)量檢測(cè)以及在外場(chǎng)環(huán)境下光學(xué)相機(jī)發(fā)射前的成像質(zhì)量檢測(cè)。首先,傳統(tǒng)的用于系統(tǒng)裝調(diào)的檢測(cè)方法為干涉自準(zhǔn)直檢測(cè)法,干涉儀發(fā)出的球面光波經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)和標(biāo)準(zhǔn)平面鏡反射后沿原路返回干涉儀,完成自準(zhǔn)直檢測(cè)。這種方法具有簡(jiǎn)單、高效和高精度的特點(diǎn),但是隨著光學(xué)系統(tǒng)口徑的不斷增大,制造與光學(xué)系統(tǒng)口徑相當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)平面鏡越來越困難,世界上兩米以上口徑的標(biāo)準(zhǔn)平面鏡少之又少,限制了這種方法在大口徑空間光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)上的應(yīng)用。其次,制造完成的空間光學(xué)相機(jī)在由實(shí)驗(yàn)室搬運(yùn)到發(fā)射基地的過程中,由于受到震動(dòng)的影響,其光學(xué)性能可能發(fā)生改變,在發(fā)射基地的外場(chǎng)檢測(cè)是確保相機(jī)成像質(zhì)量滿足要求的最后一把標(biāo)尺。然而光學(xué)系統(tǒng)在封裝完成后無法再進(jìn)行自準(zhǔn)直檢測(cè),傳統(tǒng)的方法是使用平行光管對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè),平行光管模擬無窮遠(yuǎn)處像點(diǎn),經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)成像后在像面形成點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù),計(jì)算調(diào)制傳...

【文章頁(yè)數(shù)】：128 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：博士

【部分圖文】：

圖1.1干涉自準(zhǔn)直檢測(cè)原理圖

目前研究比較廣泛的技術(shù)主要為基于夏克-哈特曼波前傳感技術(shù)、子孔徑拼接自準(zhǔn)直檢測(cè)、五棱鏡掃描檢測(cè)[32]-[34]。1.2.1自準(zhǔn)直檢測(cè)自準(zhǔn)直檢測(cè)根據(jù)波前探測(cè)器件的不同又分為基于干涉儀的自準(zhǔn)直檢測(cè)和基于夏克-哈特曼波前傳感器的自準(zhǔn)直檢測(cè)，工程上常用于光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)的為干涉自準(zhǔn)直檢測(cè)....

圖1.2平行光管檢測(cè)原理示意圖

中國(guó)科學(xué)院大學(xué)博士學(xué)位論文：基于掃描哈特曼的大口徑空間光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)平行光管檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)焦面圖像傳感器安裝完成，光學(xué)系統(tǒng)整體裝調(diào)結(jié)束后，光位置不能再增加其他光路，則無法使用干涉儀進(jìn)行自準(zhǔn)直檢測(cè)。通于裝調(diào)好的空間相機(jī)的成像質(zhì)量評(píng)估，使用平行光管對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)意圖如圖1.2所示。....

圖1.3LOTIS平行光管

圖1.3LOTIS平行光管Figure1.3TheLargeOpticalTestandIntegrationSite2.3基于夏克-哈特曼波前傳感技術(shù)的檢測(cè)方法1971年，Platt和Shack對(duì)哈特曼檢測(cè)方法做了一定的變形，用于檢測(cè)平前，被稱為....

圖1.4夏克-哈特曼技術(shù)檢測(cè)原理示意圖

圖1.4夏克-哈特曼技術(shù)檢測(cè)原理示意圖Figure1.4SchematicofShack-Hartmannwavefrontsensor年來，基于夏克-哈特曼傳感器的波前探測(cè)方法得到了深入的研究ovakJ.等在2007年報(bào)道了應(yīng)用夏克-哈特曼波前傳感器檢測(cè)....

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