【摘要】：光學綜合孔徑成像技術是高分辨率光學成像技術方法之一,它實現(xiàn)并應用于天文觀測研究。光學綜合孔徑陣列的優(yōu)化在光學綜合孔徑成像技術中起著至關重要的作用。本文的主要工作就是對光學綜合孔徑陣列進行優(yōu)化。本文在綜述了國內外光學綜合孔徑成像技術的發(fā)展基礎上,介紹了光學綜合孔徑干涉成像技術所用到的uv覆蓋、閉合相位和圖像重構三個關鍵技術及子孔徑排列的原理。重點對子孔徑陣列進行了詳細研究,提出了直線陣列的優(yōu)化方案,求出了子孔徑數(shù)目不大于9個的有缺失小冗余的陣列和無缺失的陣列。為了對提出的孔徑陣列的優(yōu)化效果進行評價,本文采用了一種新的利用采樣頻譜圖分析的評價方法,著重對直線陣列的優(yōu)化結果進行了分析,以四個孔徑為例,對直線陣列的成像結果進行了計算機模擬,得到干涉圖以及干涉頻譜圖,并用干涉圖的信息熵對直線陣列性能做了定量分析。通過對不同參數(shù)條件下的兩孔徑干涉實驗結果的分析,確定了實驗室中直線陣列孔徑半徑大小,并對四個孔徑的直線陣列進行了實驗。實驗結果表明,本文采用的孔徑陣列的優(yōu)化判斷方法以及實現(xiàn)優(yōu)化的過程是有效的。
【圖文】：

統(tǒng)中如果兩孔徑靠得太近如圖34零實際上己經體現(xiàn)了一定的冗余。要減少這定程度，如圖3.5，此時頻譜采樣位置混，使得頻譜采樣位置混疊現(xiàn)象剛好消失，比如在實際處理過程中，可取占=.02D。為了不產生混疊，我們考慮孔徑半徑取值大。大小之后，我們用同種方法對子孔徑陣列，我們先定義冗余度為陣列冗余基線分量們分四種情況進行討論。一種為同孔徑數(shù)，，缺失最小冗余和無缺失最小冗余陣列;一孔徑數(shù)的最小冗余陣列。別對這四種情況進行討論。我們設陣列中

同孔徑數(shù)，不同冗余度的陣列頻譜圖
【學位授予單位】：南京理工大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2005
【分類號】：P111.2

【引證文獻】

相關博士學位論文 前1條

1 段相永;斐索式稀疏孔徑光學系統(tǒng)成像技術研究[D];中國科學院研究生院（長春光學精密機械與物理研究所）;2012年

本文編號：2673033