發(fā)布時間：2024-03-25 19:14

　　作為計算機科學與技術(shù)的典型應用領域,測試點的優(yōu)選技術(shù)是測試性設計的關(guān)鍵;在對測試性模型相關(guān)性關(guān)系分析的基礎上,針對不同的測試需求,在提出了相應的優(yōu)化方法:對于完成基本功能的開機測試,提出了基于雙向搜索的測試點優(yōu)選算法;對于系統(tǒng)級診斷測試,提出了基于改進動態(tài)貪婪算法的測試點優(yōu)選算法;根據(jù)不同的應用對象使用相應的算法,減少了影響因素,加強了算法針對性,能夠有效的提高測試點選取速率,降低測試成本。

【文章頁數(shù)】：4 頁

【文章目錄】：
1相關(guān)關(guān)系的確定方法
2 基于雙向搜索的測試點優(yōu)選方法
    2.1 開機檢測問題描述
    2.2 系統(tǒng)特征信息熵
    2.3 基于雙向搜索的測試點優(yōu)選方法的實現(xiàn)
3 基于改進動態(tài)貪婪算法的測試點優(yōu)選技術(shù)
    3.1 面向整機故障檢測的測試點選取問題描述
    3.2 動態(tài)貪婪算法的改進
    3.3 測試點優(yōu)選的實現(xiàn)
4 實例分析
    4.1 雙向搜索算法
    4.2 改進動態(tài)貪婪算法
5 結(jié)論



本文編號：3938751