發(fā)布時間：2022-08-01 17:37

　　變異測試是一種面向故障的軟件測試方法,該技術(shù)向被測程序注入一組人工設計的故障,又稱變異體,來評估已有測試用例的故障檢測水平以及設計滿足高故障檢測率的測試集。變異測試存在的一個主要問題是,它生成了大量冗余且無用的變異體,這些變異體無法顯著提升測試用例的檢測水平,但卻極大地提高了測試分析的成本。近年來,國內(nèi)外研究者提出了通過蘊含關(guān)系識別一組最小無冗余的變異體子集作為變異測試的輸入,從而最大程度地減少測試成本,同時提高測試用例殺死每一個故障所取得的故障檢測水平。然而,變異體的蘊含關(guān)系識別是一個不可解問題。本文采用了一種基于動態(tài)測試的算法近似識別變異蘊含關(guān)系以及最小蘊含變異集。相較于現(xiàn)有的算法,該算法能夠在盡可能減少測試次數(shù)和計算成本的條件下完成蘊含集的識別。本文的貢獻包括:1)提出了一種動態(tài)快速算法,計算和識別變異體的動態(tài)蘊含圖;該算法主要通過三個步驟完成蘊含關(guān)系的識別,分別是:聚類、排序和剪枝;2)將上述算法集成到CTS測試系統(tǒng)中,為識別77種C語言算子的變異體中的最小蘊含集提供功能支持;3)將文本提出的快速算法應用于12組程序的近6萬個變異體上,包括五個較大的西門子測試套件程序,從中識別... 

【文章頁數(shù)】：63 頁

【學位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 研究背景
    1.2 研究現(xiàn)狀
    1.3 研究內(nèi)容
    1.4 論文結(jié)構(gòu)
第二章 變異測試概述
    2.1 變異測試流程
    2.2 變異測試方法
    2.3 變異測試現(xiàn)狀
第三章 蘊含關(guān)系的定義與研究現(xiàn)狀
    3.1 蘊含關(guān)系的相關(guān)定義
    3.2 蘊含關(guān)系的研究現(xiàn)狀
        3.2.1 邏輯蘊含關(guān)系
        3.2.2 動態(tài)蘊含關(guān)系
        3.2.3 靜態(tài)蘊含關(guān)系
    3.3 動態(tài)蘊含方法
    3.4 現(xiàn)有算法的存在問題
第四章 一種計算最小蘊含變異集的快速算法
    4.1 計算最小蘊含變異集一般流程
    4.2 聚類、排序與剪枝
        4.2.1 聚類方法clusterMutants()的實現(xiàn)
        4.2.2 直接蘊含方法directSubsumed()的實現(xiàn)
第五章 DMSG框架的詳細設計和實現(xiàn)
    5.1 DMSG生成框架
    5.2 CTS故障注入模塊
        5.2.1 程序故障分析和建模
        5.2.2 C變異算子的實現(xiàn)
    5.3 西門子集測試框架
    5.4 DMSGen工具的實現(xiàn)
        5.4.1 Cmutant
        5.4.2 CTest
        5.4.3 CScore
        5.4.4 MGraph
    5.5 實驗分析
        5.5.1 研究問題和實驗設計
        5.5.2 實驗結(jié)果分析
第六章 總結(jié)與展望
    6.1 總結(jié)
    6.2 下一步工作展望
參考文獻
致謝
作者攻讀學位期間發(fā)表的學術(shù)論文目錄



本文編號：3667882