【摘要】：科技發(fā)展為電路板傳統(tǒng)檢測(cè)方法帶來挑戰(zhàn),傳統(tǒng)檢測(cè)方法不能更好滿足電路板檢測(cè)及維護(hù)需求。紅外熱成像技術(shù)作為一種新型手段,將逐漸被應(yīng)用于該領(lǐng)域中。本文首先對(duì)紅外熱成像技術(shù)以及故障檢測(cè)方面的國(guó)內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀進(jìn)行了分析,并對(duì)紅外檢測(cè)技術(shù)相關(guān)理論進(jìn)行了詳細(xì)的論述,在此基礎(chǔ)上分別闡述了基于紅外熱成像技術(shù)的電路板故障檢測(cè)方法實(shí)現(xiàn)過程中,紅外圖像處理的必要技術(shù)措施和手段。本文利用紅外成像技術(shù),對(duì)出現(xiàn)故障的待測(cè)電路板和正常工作的標(biāo)準(zhǔn)電路板進(jìn)行研究。在相同條件下由于待測(cè)板故障元件區(qū)域溫度分布和標(biāo)準(zhǔn)板同一區(qū)域溫度分布存在差異,會(huì)產(chǎn)生不同的紅外圖像,以此作為故障檢測(cè)的依據(jù),并以差分檢測(cè)法和熱序列檢測(cè)法相互結(jié)合進(jìn)行電路板的故障檢測(cè)。差分檢測(cè)法需要利用電路板的紅外圖像,然而在利用紅外熱像儀獲取紅外圖像時(shí),由于紅外鏡頭的分辨率、拍攝角度的不同會(huì)使拍攝到的紅外圖像出現(xiàn)偏差,因此需要對(duì)其進(jìn)行必要的圖像預(yù)處理、配準(zhǔn)等工作。圖像配準(zhǔn)的目的是消除空間位置差異,前提是圖像預(yù)處理,本文預(yù)處理工作包括紅外圖像增強(qiáng)、去噪。為了實(shí)現(xiàn)紅外圖像增強(qiáng),本文在直方圖均衡化和高通濾波增強(qiáng)的基礎(chǔ)上提出加權(quán)平均增強(qiáng)的處理方法,增強(qiáng)效果比單一方法更明顯。另外,圖像增強(qiáng)的同時(shí)噪聲也得到增強(qiáng),需要去對(duì)紅外圖像去噪處理。本文通過對(duì)不同的圖像去噪方法進(jìn)行分析比較,并對(duì)中值濾波法作出改進(jìn),經(jīng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證該算法對(duì)去除噪聲有明顯效果。本文通過設(shè)計(jì)故障判斷流程并搭建了實(shí)驗(yàn)平臺(tái),通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證表明本文設(shè)計(jì)的電路板故障檢測(cè)方法可行,具有較高的故障檢測(cè)率。
[Abstract]:The development of science and technology brings challenges to the traditional detection methods of circuit boards, which can not better meet the needs of circuit board detection and maintenance. As a new method, infrared thermal imaging technology will be gradually applied in this field. In this paper, the development status of infrared thermal imaging technology and fault detection at home and abroad are analyzed, and the related theories of infrared detection technology are discussed in detail. On this basis, the necessary technical measures and means of infrared image processing in the realization of the circuit board fault detection method based on infrared thermal imaging technology are described respectively. In this paper, infrared imaging technology is used to study the test circuit board and the standard circuit board. Under the same conditions, different infrared images will be produced because of the difference between the temperature distribution of the fault elements and the temperature distribution of the same area of the standard board, which can be used as the basis for fault detection. The differential detection method and the thermal sequence detection method are used to detect the fault of circuit board. The differential detection method needs to use the infrared image of the circuit board. However, when using the infrared thermal imager to obtain the infrared image, because of the resolution of the infrared lens, the different shooting angle will cause the error of the infrared image. Therefore, it is necessary to do the necessary image preprocessing, registration and other work. The purpose of image registration is to eliminate the spatial position difference, and the premise is image preprocessing, which includes infrared image enhancement and denoising. In order to achieve infrared image enhancement, this paper proposes a weighted average enhancement method based on histogram equalization and high-pass filter enhancement. The enhancement effect is more obvious than the single method. In addition, the noise is also enhanced while the image is enhanced, so it is necessary to de-noise the infrared image. In this paper, different image denoising methods are analyzed and compared, and the median filtering method is improved. The experimental results show that the algorithm has obvious effect on noise removal. In this paper, the fault judgment flow is designed and the experimental platform is built. The experimental results show that the circuit board fault detection method designed in this paper is feasible and has a high fault detection rate.
【學(xué)位授予單位】：太原科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TN407;TP391.41

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本文編號(hào)：2373393