【摘要】：為了對高密度電法長測線多剖面數(shù)據(jù)進(jìn)行連接并使其流程規(guī)范化,本文總結(jié)了目前提出過的三種方法:(1)子剖面連接法;(2)分組誤差校正法;(3)數(shù)據(jù)插值法,并對三種方法的可行性及應(yīng)用效果做了分析;詳細(xì)介紹了子剖面連接法的方法原理;通過對不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的測量電阻率的反演RMS值進(jìn)行研究,驗(yàn)證了子剖面連接法的科學(xué)性及可行性;對長測線多剖面數(shù)據(jù)進(jìn)行連接的具體流程進(jìn)行規(guī)范化,為實(shí)際工作提供了重要的指引作用.通過實(shí)例應(yīng)用說明,利用長剖面與子剖面進(jìn)行聯(lián)合解釋,能更加直觀和方便地對整條測線上的異常進(jìn)行圈定和對比,能更全面、精確地認(rèn)識和把握勘探區(qū)域的電性分布規(guī)律.
【圖文】：

2017，32(4)李小彬，等:高密度電法長測線多剖面數(shù)據(jù)連接及應(yīng)用實(shí)例(www．progeophys．cn)圖1高密度電法溫納裝置數(shù)據(jù)剖面示意圖Fig．1SketchofprofiledataforWennerarrayofhighdensityresistivity圖2部分重疊排列連接示意圖(a)部分重疊子剖面;(b)部分重疊排列測線．Fig．2Sketchoflinkingforpartialoverlappingarrays(a)Sub-sectionofpartialoverlappingarrays;(b)Lineofpartialoverlappingarrays．受地形或其他因素限制，當(dāng)采用“無重疊排列”采集數(shù)據(jù)時(圖3)，會導(dǎo)致剖面倒梯形以外空白部分或部分地段的數(shù)據(jù)缺失，但為了異常解釋方便和了解勘探區(qū)電性分布趨勢，可以直接把子剖面連接成長剖面(式7)并進(jìn)行解釋．由于其數(shù)據(jù)部分缺失，地下物質(zhì)電性性質(zhì)在缺失段的精確度和真實(shí)性有一定的影響．公式(7)為D(i)=D1(a)i=a，D2(b)i=b，D3(c)i=c，{鐤．(7)2不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的反演RMS值研究為了驗(yàn)證數(shù)據(jù)質(zhì)量較差時連接結(jié)果，以及不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的連接結(jié)果的精確度，需要對不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的測量電阻率的反演RMS值進(jìn)行研究．實(shí)際工作中，由于各廠家測量儀器的精度及穩(wěn)定性不同、測量工區(qū)的地質(zhì)條件不同、測量人員操作細(xì)節(jié)不同等原因，會造成高密度電法測量電阻率數(shù)據(jù)質(zhì)量的不同，也就是我們通常所說的測量數(shù)據(jù)的好壞．測量數(shù)據(jù)質(zhì)量不同是很正常也很常見的，但是不同測量數(shù)據(jù)質(zhì)量是否會對長測線多剖面數(shù)據(jù)連接產(chǎn)生影響，這是本文這節(jié)需要研究的．本文從大量的實(shí)測電阻率數(shù)據(jù)中隨機(jī)選出3組不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的數(shù)據(jù)進(jìn)行連接并反演，采用子剖面連接法對部分重疊剖面進(jìn)行處理:①取對應(yīng)節(jié)點(diǎn)上剖面1的數(shù)據(jù)值(式5);圖3無重疊排列連接示意圖(a)無重疊子剖面;(b)無重疊排列測線．Fig．3Sketchoflinkingfornoneoverlappingarrays(a)Sub

2017，32(4)李小彬，等:高密度電法長測線多剖面數(shù)據(jù)連接及應(yīng)用實(shí)例(www．progeophys．cn)圖1高密度電法溫納裝置數(shù)據(jù)剖面示意圖Fig．1SketchofprofiledataforWennerarrayofhighdensityresistivity圖2部分重疊排列連接示意圖(a)部分重疊子剖面;(b)部分重疊排列測線．Fig．2Sketchoflinkingforpartialoverlappingarrays(a)Sub-sectionofpartialoverlappingarrays;(b)Lineofpartialoverlappingarrays．受地形或其他因素限制，當(dāng)采用“無重疊排列”采集數(shù)據(jù)時(圖3)，會導(dǎo)致剖面倒梯形以外空白部分或部分地段的數(shù)據(jù)缺失，但為了異常解釋方便和了解勘探區(qū)電性分布趨勢，可以直接把子剖面連接成長剖面(式7)并進(jìn)行解釋．由于其數(shù)據(jù)部分缺失，地下物質(zhì)電性性質(zhì)在缺失段的精確度和真實(shí)性有一定的影響．公式(7)為D(i)=D1(a)i=a，D2(b)i=b，D3(c)i=c，{鐤．(7)2不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的反演RMS值研究為了驗(yàn)證數(shù)據(jù)質(zhì)量較差時連接結(jié)果，以及不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的連接結(jié)果的精確度，需要對不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的測量電阻率的反演RMS值進(jìn)行研究．實(shí)際工作中，由于各廠家測量儀器的精度及穩(wěn)定性不同、測量工區(qū)的地質(zhì)條件不同、測量人員操作細(xì)節(jié)不同等原因，會造成高密度電法測量電阻率數(shù)據(jù)質(zhì)量的不同，，也就是我們通常所說的測量數(shù)據(jù)的好壞．測量數(shù)據(jù)質(zhì)量不同是很正常也很常見的，但是不同測量數(shù)據(jù)質(zhì)量是否會對長測線多剖面數(shù)據(jù)連接產(chǎn)生影響，這是本文這節(jié)需要研究的．本文從大量的實(shí)測電阻率數(shù)據(jù)中隨機(jī)選出3組不同數(shù)據(jù)質(zhì)量的數(shù)據(jù)進(jìn)行連接并反演，采用子剖面連接法對部分重疊剖面進(jìn)行處理:①取對應(yīng)節(jié)點(diǎn)上剖面1的數(shù)據(jù)值(式5);圖3無重疊排列連接示意圖(a)無重疊子剖面;(b)無重疊排列測線．Fig．3Sketchoflinkingfornoneoverlappingarrays(a)Sub
【作者單位】： 中國地質(zhì)大學(xué)(武漢);中國地質(zhì)調(diào)查局武漢地質(zhì)調(diào)查中心;
【基金】：國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(41574121)資助
【分類號】：P631.3

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本文編號：2531404