表面微觀形貌是評(píng)價(jià)表面質(zhì)量、表征表面性能時(shí)需要考慮的重要因素。半個(gè)多世紀(jì)以來,測(cè)量技術(shù)和儀器制造水平不斷提高,分形、小波、motif理論出現(xiàn)在表面形貌的研究領(lǐng)域,使得表面粗糙度的研究成為工程表面領(lǐng)域的研究熱點(diǎn),同時(shí)也為工業(yè)制造的精密化以及微機(jī)械制造領(lǐng)域中高精密表面評(píng)定奠定了基礎(chǔ)。有很多相對(duì)成熟的研究結(jié)果被逐步制定為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或各國(guó)家的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 本文以三維motif方法為主要研究?jī)?nèi)容,對(duì)表面微觀形貌及其特征和表面性能等方面做了研究分析。三維motif方法是在二維motif方法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,繼承了二維方法不用濾波、不受取樣長(zhǎng)度限制的優(yōu)點(diǎn)并能全面反映表面形貌特征。本文主要工作包含以下幾方面: (1)敘述了粗糙度評(píng)定發(fā)展的歷史,幾種主要測(cè)量方法的優(yōu)點(diǎn)和不足。用原子力顯微鏡作為測(cè)量工具,獲取表面形貌數(shù)據(jù)。敘述了分層數(shù)據(jù)文件HDF結(jié)構(gòu)、使用方法和廣闊的應(yīng)用前景。 (2)將motif方法的研究對(duì)象從截面輪廓擴(kuò)展至三維表面時(shí),首先應(yīng)討論的就是離散柵格數(shù)據(jù)表示連續(xù)曲面時(shí)存在的拓?fù)涿軉栴}。本文采用將motif區(qū)域和分割線分別定義鄰接方式的方法解決這一矛盾,并在此分別定義鄰接方式的基礎(chǔ)上用鄰域分析的...

【文章頁數(shù)】：74 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖3一ZA「M測(cè)量系統(tǒng)

本文實(shí)驗(yàn)和后續(xù)分析所用的三維形貌數(shù)據(jù)均是由原子力顯微鏡掃描獲得。采用美國(guó)Veeco(MT)公司生產(chǎn)的原子力顯微鏡，規(guī)格型號(hào)AutoprobeCPResearchsysteln，見圖3一2。選用粗糙度樣塊為手研加工方式，顯微鏡掃描平臺(tái)可容納樣塊大小為10xlomm。選擇輕敲工....

圖3一3元數(shù)據(jù)信息Figure3一3Meta一Data樣塊的掃描數(shù)據(jù)選取為256x256的數(shù)據(jù)點(diǎn)陣，其中測(cè)量單位(units)是納米，

本文實(shí)驗(yàn)和后續(xù)分析所用的三維形貌數(shù)據(jù)均是由原子力顯微鏡掃描獲得。采用美國(guó)Veeco(MT)公司生產(chǎn)的原子力顯微鏡，規(guī)格型號(hào)AutoprobeCPResearchsysteln，見圖3一2。選用粗糙度樣塊為手研加工方式，顯微鏡掃描平臺(tái)可容納樣塊大小為10xlomm。選擇輕敲工....

圖34樣塊001Figure3碑S田爪P】e001

第三章實(shí)驗(yàn)測(cè)量及數(shù)據(jù)采集、預(yù)處理子，值為1.3229xlo一，將原形貌數(shù)據(jù)整數(shù)整數(shù)化后是132，這樣就便于計(jì)算機(jī)的存中分析的可視化，有代表高度值的元素點(diǎn)，然而整數(shù)化后的數(shù)據(jù)矩陣含有負(fù)值，遠(yuǎn)遠(yuǎn)imshow()函數(shù)時(shí)加入矩陣元素最大值命令是加show(Data，[lowhish])，....

圖5一6樣塊001和疊加了分水線的分割圖

表面粗糙度的三維motif評(píng)定方法研究可知這樣的p點(diǎn)最多只有四類，通常k的值會(huì)是1(一個(gè)相鄰區(qū)域)或2(有兩個(gè)相鄰區(qū)域)，對(duì)于k=3、4的情形見圖5一5:軍軍，Orrr000booo才才O才才礦}}才or0才b才0才0nU(a)k=4(b)k=3圖5一5令仔接區(qū)域個(gè)數(shù)為....

本文編號(hào)：3983064