【摘要】：機(jī)電產(chǎn)品性能不斷提高的同時(shí)帶來(lái)了系統(tǒng)可靠性、測(cè)試性和維修性等問(wèn)題。測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)從系統(tǒng)設(shè)計(jì)開(kāi)始就對(duì)系統(tǒng)所需的測(cè)試和診斷資源進(jìn)行合理的安排與配置,從而保證了系統(tǒng)的故障診斷能力。然而測(cè)試性設(shè)計(jì)輔助工具的缺乏影響了測(cè)試性設(shè)計(jì)的進(jìn)一步發(fā)展。因此,本文開(kāi)展了機(jī)電產(chǎn)品測(cè)試性輔助分析與決策相關(guān)技術(shù)的研究,主要工作如下: 1.測(cè)試性信息描述模型為系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測(cè)試性設(shè)計(jì)提供了信息交流機(jī)制,基于建模語(yǔ)言EXPRESS-G構(gòu)造了測(cè)試性信息描述模型,利用該模型將所得的測(cè)試性信息采用數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行存儲(chǔ),為測(cè)試性設(shè)計(jì)打下了基礎(chǔ)。 2.針對(duì)測(cè)試方案構(gòu)造中的測(cè)試選擇問(wèn)題,描述了測(cè)試選擇優(yōu)化問(wèn)題的數(shù)學(xué)模型,并對(duì)測(cè)試選擇解空間分布進(jìn)行分析,構(gòu)造了測(cè)試懲罰函數(shù)和評(píng)價(jià)函數(shù)。最后提出一種基于遺傳算法的測(cè)試選擇求解方法,為系統(tǒng)測(cè)試選擇提供了比較好的實(shí)現(xiàn)技術(shù)。研究表明,該算法適應(yīng)性好,計(jì)算效率高,能獲得最佳測(cè)試選擇結(jié)果。 3.針對(duì)測(cè)試序列優(yōu)化問(wèn)題,利用測(cè)試性信息矩陣構(gòu)造了測(cè)試序列的代價(jià)評(píng)估函數(shù),分析了測(cè)試序列優(yōu)化求解方法。采用基于Huffman編碼和條件熵的啟發(fā)式評(píng)估函數(shù),構(gòu)造并實(shí)現(xiàn)了AO~*算法。通過(guò)算例驗(yàn)證了算法的有效性,從而大大簡(jiǎn)化了問(wèn)題的求解。 4.根據(jù)測(cè)試性設(shè)計(jì)的需求,對(duì)測(cè)試性信息描述、測(cè)試選擇優(yōu)化和測(cè)試序列優(yōu)化等功能模塊進(jìn)行集成,開(kāi)發(fā)了測(cè)試性輔助設(shè)計(jì)平臺(tái)——測(cè)試性輔助分析與決策系統(tǒng)。為測(cè)試性設(shè)計(jì)提供了簡(jiǎn)便有效的工具。并利用它對(duì)機(jī)電跟蹤與穩(wěn)定伺服平臺(tái)進(jìn)行測(cè)試性設(shè)計(jì),得到了較好的效果。
【學(xué)位授予單位】：國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2004
【分類號(hào)】：TH17
【圖文】：

為獲得可行的測(cè)試方案配置，必須首先使rDF、rFI和r。滿足規(guī)定的要求。不失一般性，我們分別以rDF為橫軸、rFI為縱軸來(lái)研究滿足測(cè)試性指標(biāo)要求的可行測(cè)試方案區(qū)域，如圖3一6所示。由圖3一6，根據(jù)設(shè)定的rDF和rFI值，可將所有可能的備選測(cè)試集劃分為4個(gè)區(qū)域，分別用工、工I、I工I、工v表示。顯然，要使故障檢測(cè)率和故障隔離率滿足規(guī)定要求，可行的廠DF圖3一6可行測(cè)試方案解區(qū)，|川日|川日|||||||||0廠測(cè)試集必須位于區(qū)域工內(nèi)。在實(shí)際進(jìn)行測(cè)試方案求解的過(guò)程中，我們事先很難知道各個(gè)區(qū)域內(nèi)測(cè)試集的分布情況，很多時(shí)候，區(qū)域I內(nèi)可能不存在可行解

國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)研究生院學(xué)位論文AO*診斷決策樹(shù)如圖4一5所示。根據(jù)上一章中阿波羅號(hào)發(fā)射前的檢測(cè)例子所得測(cè)試集Tor=t{tl，t，，，t，。，t，:}，采用“貪婪”啟發(fā)式搜索和AO*法進(jìn)行診斷測(cè)試策略生成。假設(shè)故障概率P=[0.01，0.02，0.03

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 徐東;裝備綜合保障關(guān)鍵技術(shù)研究[D];國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2006年

本文編號(hào)：2715358