【摘要】： 試驗(yàn)?zāi)B(tài)分析技術(shù)是一種綜合應(yīng)用振動(dòng)試驗(yàn)、數(shù)據(jù)處理和計(jì)算機(jī)技術(shù)求取機(jī)械結(jié)構(gòu)動(dòng)態(tài)特性的有效工具,是驗(yàn)證和修改有限元模型的主要手段。通過模態(tài)試驗(yàn)可以得到結(jié)構(gòu)的模態(tài)參數(shù),為結(jié)構(gòu)動(dòng)力學(xué)分析和振動(dòng)控制提供原始數(shù)據(jù)。目前,識(shí)別模態(tài)參數(shù)的方法可分為相位共振法(適調(diào)多點(diǎn)激振法)和相位分離法兩種[1]。相對(duì)于相位分離法來說,相位共振法是一種比較直觀的物理識(shí)別方法,在結(jié)構(gòu)做“純模態(tài)”振動(dòng)時(shí),通過物理測(cè)量直接獲得模態(tài)參數(shù);試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理工作量小,且精度一般比單輸入系統(tǒng)高。但純模態(tài)試驗(yàn)周期較長(zhǎng),且識(shí)別精度在很大程度上取決于操作人員的水平和經(jīng)驗(yàn)。 針對(duì)純模態(tài)試驗(yàn)的特點(diǎn)和發(fā)展?fàn)顩r,本文主要做了以下四個(gè)方面的工作: 1.利用戴克法來調(diào)節(jié)激振力幅值,從而實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)純模態(tài)的自動(dòng)適調(diào)。充分利用目前計(jì)算機(jī)的強(qiáng)大功能,克服了在調(diào)力過程中由人為因素造成的影響。 2.基于有效獨(dú)立法的思想,研究了逐步消減法在作動(dòng)器/傳感器優(yōu)化配置中的應(yīng)用。并對(duì)純模態(tài)試驗(yàn)中的激振器和傳感器配置做了優(yōu)化。 3.在LabVIEW環(huán)境下,調(diào)用VPP節(jié)點(diǎn)驅(qū)動(dòng)VXI總線來實(shí)現(xiàn)多通道正弦激勵(lì)信號(hào)的生成、響應(yīng)信號(hào)的采集與處理、不同激振力之間的相位協(xié)調(diào)以及測(cè)試結(jié)果的動(dòng)態(tài)顯示、儲(chǔ)存。 4.對(duì)一個(gè)小型懸臂梁進(jìn)行純模態(tài)試驗(yàn),檢驗(yàn)試驗(yàn)系統(tǒng)的實(shí)用性和可靠性�？傊�,本課題綜合利用以上各種技術(shù)和方法,實(shí)現(xiàn)了純模態(tài)試驗(yàn)中激振力的自動(dòng)適調(diào),提高了試驗(yàn)的易操作性和可靠性。
【圖文】：

多點(diǎn)相位協(xié)調(diào)及純模態(tài)試驗(yàn)研究示將uf = f~ f1的頻譜轉(zhuǎn)移到 0 ~ Δ區(qū)間內(nèi)，對(duì)于圖 2.2 中由于只考慮因此第二項(xiàng)可以不考慮。這就是移頻原理。利用移頻原理將要移頻部分低頻，再通過低通濾波器濾去式（2.12）中高于uf +f1的頻率，就調(diào)制信號(hào)。利用較小的頻率分辨率對(duì)這一信號(hào)進(jìn)行采樣，，從而達(dá)到提高頻率分率細(xì)化的目的。

本章就試驗(yàn)的硬件系統(tǒng)做一個(gè)詳細(xì)的介紹。圖 3.1 測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)物圖3.1 VXI 總線技術(shù)簡(jiǎn)介目前，基于 VXI 總線技術(shù)開發(fā)的計(jì)算機(jī)測(cè)控系統(tǒng)以其結(jié)構(gòu)緊湊、高速傳輸、高精度和低成本等突出特點(diǎn)獲得廣泛的應(yīng)用。VXI 總線系統(tǒng)在組建中、大規(guī)模自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)以及對(duì)速度、精度要求較高的場(chǎng)合，有著其它系統(tǒng)無法比擬的優(yōu)勢(shì)。經(jīng)過十余年的發(fā)展，VXI 總線技術(shù)正沿著總線與驅(qū)動(dòng)程序的標(biāo)準(zhǔn)化、硬軟件的模塊化、編程平臺(tái)的圖形化和硬件模塊的即插即用化等方向發(fā)展。今天，VXIbus 儀器和系統(tǒng)已為世人普遍接受，并成為儀器系統(tǒng)發(fā)展的主流。3.1.1 VXI 概述VXI（VEMbus Extension for Instrumentation）是 1987 年由 Colorado Data System、Hewlett Packard、Racal Dana、Tektronix 和 Wavetek 等五家著名儀器制造公司（即后
【學(xué)位授予單位】：南京航空航天大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2006
【分類號(hào)】：TH114

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 鄭德清;機(jī)車車輛多點(diǎn)激勵(lì)模態(tài)試驗(yàn)系統(tǒng)研究[D];西南交通大學(xué);2011年

本文編號(hào)：2646522