硬件測(cè)試中自動(dòng)控制板卡電壓拉偏的方法
發(fā)布時(shí)間:2017-06-05 16:27
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【摘要】:在硬件板卡設(shè)計(jì)中,對(duì)硬件板卡的供電電壓范圍都有一定的要求,為了方便驗(yàn)證同一批次產(chǎn)品中每張板卡供電電壓范圍的一致性及板卡跌落電壓檢測(cè)電路是否能有效工作,利用TPS5430DDA開關(guān)電源芯片提出了一種板卡拉偏電壓自動(dòng)控制的方法。該方法易于實(shí)現(xiàn),電路簡(jiǎn)單,可應(yīng)用于整個(gè)生產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié)。
【作者單位】: 成都理工大學(xué)工程技術(shù)學(xué)院電計(jì)系;
【關(guān)鍵詞】: TPSDDA 硬件板卡 電壓拉偏 電壓跌落
【分類號(hào)】:TP332
【正文快照】: 0引言在大多數(shù)板卡設(shè)計(jì)中,針對(duì)客戶對(duì)硬件板卡供電范圍的要求,需要在研發(fā)階段進(jìn)行驗(yàn)證。因此,對(duì)批量硬件板卡相關(guān)指標(biāo)的測(cè)試尤為重要,其主要工作就是對(duì)工作電源電壓進(jìn)行拉偏控制,并對(duì)電壓跌落信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。本文以某主板測(cè)試案例為例,說明測(cè)試中自動(dòng)控制板卡電壓拉偏的方法。
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本文編號(hào):424106
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