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相變材料中局域結(jié)構(gòu)與原子成鍵的研究

發(fā)布時(shí)間:2022-08-01 17:03
  作為非易失性存儲(chǔ)技術(shù),相變存儲(chǔ)被認(rèn)為是下一代存儲(chǔ)技術(shù)最優(yōu)解決方案之一。GeTe-Sb2Te3偽二元合金是目前為止比較成熟的一類相變材料,其中GeTe和Ge2Sb2Te5研究的最多。在近幾十年的研究中,人們對(duì)GeTe和GeSbTe的晶體相結(jié)構(gòu)已經(jīng)有了深入的認(rèn)識(shí),但對(duì)于其非晶相結(jié)構(gòu)和相變機(jī)理的認(rèn)識(shí)仍然存在著很大的分歧。因此深刻理解GeTe和GeSbTe的非晶相結(jié)構(gòu)對(duì)該材料的發(fā)展具有積極的推動(dòng)作用。本文利用第一性原理計(jì)算,對(duì)相變存儲(chǔ)材料GeTe和Ge2Sb2Te5的非晶結(jié)構(gòu)進(jìn)行了深入的研究。利用電子局域函數(shù)(Electron Localization Function,ELF)方法,我們?cè)敿?xì)研究了GeTe和Ge2Sb2Te5非晶態(tài)模型中的成鍵信息和原子局域結(jié)構(gòu)構(gòu)型的關(guān)系。結(jié)果如下:1.采用物理截?cái)嗪碗娮泳钟蚝瘮?shù)相結(jié)合的方法,并對(duì)配位數(shù)和鍵角分布進(jìn)行對(duì)比,... 

【文章頁(yè)數(shù)】:68 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【文章目錄】:
摘要
Abstract
第1章 緒論
    1.1 引言
    1.2 磁存儲(chǔ)
    1.3 光存儲(chǔ)
    1.4 半導(dǎo)體存儲(chǔ)器
        1.4.1 閃存
        1.4.2 相變隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
    1.5 相變存儲(chǔ)材料
        1.5.1 相變存儲(chǔ)材料的發(fā)現(xiàn)
        1.5.2 相變存儲(chǔ)材料GeSbTe的結(jié)構(gòu)和相變機(jī)理
    1.6 GeSbTe非晶態(tài)結(jié)構(gòu)的研究現(xiàn)狀及存在的問(wèn)題
    1.7 本論文的研究?jī)?nèi)容及意義
        1.7.1 研究意義
        1.7.2 研究?jī)?nèi)容
第2章 實(shí)驗(yàn)原理及方法
    2.1 絕熱近似(Born-Oppenheimer)
    2.2 Hartree-Fock近似
    2.3 密度泛函理論(Density Functional Theory, DFT)
        2.3.1 Hohenberg-Kohn定理
        2.3.2 Kohn-Sham方程
        2.3.3 自洽方法求解
        2.3.4 局域密度近似
        2.3.5 廣義梯度近似
    2.4 VASP代碼
第3章 物理截?cái)嗯c電子局域函數(shù)結(jié)合法研究GeTe非晶態(tài)原子成鍵
    3.1 前言
    3.2 實(shí)驗(yàn)方法
    3.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論
    3.4 本章小結(jié)
第4章 GeTe非晶態(tài)中局域結(jié)構(gòu)與原子成鍵的研究
    4.1 前言
    4.2 GeTe非晶態(tài)局域結(jié)構(gòu)的分析
    4.3 GeTe非晶態(tài)結(jié)構(gòu)中Ge原子態(tài)密度分析
    4.4 本章小結(jié)
第5章 Sb_2Te_3加入對(duì)Ge原子局域結(jié)構(gòu)以及材料性能的影響
    5.0 前言
    5.1 實(shí)驗(yàn)方法
    5.2 Ge_2Sb_2Te_5的非晶態(tài)結(jié)構(gòu)分析
        5.2.1 確定分析Ge_2Sb_2Te_5非晶態(tài)時(shí)的物理截?cái)嚅L(zhǎng)度和ELF閾值
        5.2.2 分析Ge_2Sb_2Te_5非晶態(tài)結(jié)構(gòu)中Ge和Sb的配位情況
        5.2.3 利用拆分結(jié)構(gòu)的方法分析同質(zhì)鍵對(duì)Ge原子局域結(jié)構(gòu)構(gòu)型的影響
        5.2.4 Ge_2Sb_2Te_5非晶態(tài)結(jié)構(gòu)中Ge和Sb原子態(tài)密度分析
        5.2.5 Sb_2Te_3的加入對(duì)相變材料性能的影響
    5.3 本章小結(jié)
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士學(xué)位期間所發(fā)表的學(xué)術(shù)論文
致謝


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
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碩士論文
[1]Al2O3納米顆粒/光致聚合物復(fù)合材料全息特性的研究[D]. 李赟璽.河南大學(xué) 2014
[2]NAND閃存卡低成本測(cè)試方案開(kāi)發(fā)和實(shí)現(xiàn)[D]. 邱清武.上海交通大學(xué) 2013
[3]硫?qū)傧嘧兇鎯?chǔ)器CRAM的存儲(chǔ)元結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及優(yōu)化[D]. 李娟.武漢理工大學(xué) 2009
[4]硫系化合物相變存儲(chǔ)材料結(jié)構(gòu)與性能研究[D]. 李志華.江蘇大學(xué) 2009
[5]基于串行閃存的數(shù)據(jù)診斷分析及研究[D]. 李磊.南京理工大學(xué) 2007



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