為完成數(shù)字指令驅(qū)動(dòng)電路的指令測試,設(shè)計(jì)了計(jì)算機(jī)-單片機(jī)-被測電路的三級硬件架構(gòu)及軟件程序。計(jì)算機(jī)按照數(shù)字指令驅(qū)動(dòng)電路的指令格式進(jìn)行發(fā)送與接收工作,單片機(jī)輔助測試,將數(shù)字指令驅(qū)動(dòng)電路的執(zhí)行結(jié)果反饋給計(jì)算機(jī),計(jì)算機(jī)進(jìn)行比對以完成對數(shù)字指令驅(qū)動(dòng)電路的指令測試工作。應(yīng)用這一系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了無人值守的數(shù)字指令驅(qū)動(dòng)電路測試工作,提高了測試效率。通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了將嵌入式技術(shù)應(yīng)用于集成電路測試工作中的可行性與優(yōu)越性,為集成電路的測試工作又開辟了一條快速通道。 

【文章來源】：微處理機(jī). 2020,41(02)

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

系統(tǒng)硬件電路構(gòu)成示意圖

另外計(jì)算機(jī)軟件中可以設(shè)置四位的ID號，即ASIC電路的地址，地址一致的ASIC電路才能接收執(zhí)行指令并執(zhí)行，計(jì)算機(jī)軟件可以對最多十六個(gè)ASIC電路進(jìn)行測試。對于指令的執(zhí)行時(shí)間，可以設(shè)置1ms到255ms。執(zhí)行指令測試界面如圖2所示。測試查詢指令的程序執(zhí)行過程為：發(fā)送查詢指令之前，計(jì)算機(jī)先發(fā)送一條指令給單片機(jī)，告訴單片機(jī)將其發(fā)送端從系統(tǒng)總線上斷開，將ASIC電路的發(fā)送端連接到總線上，這樣查詢指令執(zhí)行完的結(jié)果能及時(shí)反饋給計(jì)算機(jī)[10-11]。待這條指令執(zhí)行完后系統(tǒng)做好了執(zhí)行查詢指令的準(zhǔn)備，這時(shí)計(jì)算機(jī)開始發(fā)送查詢指令，并接收ASIC電路的返回信息。ASIC電路執(zhí)行查詢指令后將內(nèi)部各寄存器的值按固定格式發(fā)送給計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)接收到查詢指令的返回信息，進(jìn)行解讀并顯示。查詢指令測試界面如圖3所示。

測試查詢指令的程序執(zhí)行過程為：發(fā)送查詢指令之前，計(jì)算機(jī)先發(fā)送一條指令給單片機(jī)，告訴單片機(jī)將其發(fā)送端從系統(tǒng)總線上斷開，將ASIC電路的發(fā)送端連接到總線上，這樣查詢指令執(zhí)行完的結(jié)果能及時(shí)反饋給計(jì)算機(jī)[10-11]。待這條指令執(zhí)行完后系統(tǒng)做好了執(zhí)行查詢指令的準(zhǔn)備，這時(shí)計(jì)算機(jī)開始發(fā)送查詢指令，并接收ASIC電路的返回信息。ASIC電路執(zhí)行查詢指令后將內(nèi)部各寄存器的值按固定格式發(fā)送給計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)接收到查詢指令的返回信息，進(jìn)行解讀并顯示。查詢指令測試界面如圖3所示。3.2.2 單片機(jī)軟件設(shè)計(jì)


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