表面狀態(tài)對(duì)超彈性鈹青銅薄片微電阻點(diǎn)焊接頭性能的影響
發(fā)布時(shí)間:2017-08-07 14:18
本文關(guān)鍵詞:表面狀態(tài)對(duì)超彈性鈹青銅薄片微電阻點(diǎn)焊接頭性能的影響
更多相關(guān)文章: 熱處理狀態(tài) 中間層 微電阻點(diǎn)焊 接頭性能 接觸電阻
【摘要】:本文采用微電阻點(diǎn)焊方法,對(duì)0.2mm厚鈹青銅薄片進(jìn)行了焊接試驗(yàn),研究并分析了材料熱處理狀態(tài)對(duì)接頭力學(xué)性能和組織性能以及接頭斷裂特征的影響,同時(shí)采用添加鎳中間層的辦法提升接頭質(zhì)量,并分析了鎳中間層對(duì)接頭形成過(guò)程影響。最后結(jié)合熱處理狀態(tài)和中間層探究表面狀態(tài)對(duì)微電阻點(diǎn)焊接頭性能的影響規(guī)律。研究結(jié)果表明:在相同工藝參數(shù)下,時(shí)效態(tài)接頭熔核尺寸和力學(xué)性能整體高于固溶態(tài)接頭。在焊接熱作用下,時(shí)效態(tài)接頭熔核區(qū)硬度整體低于母材,固溶態(tài)接頭熔核區(qū)硬度高于母材。時(shí)效態(tài)接頭由熔核中心區(qū)的均勻等軸晶和熱影響區(qū)的等軸枝晶和柱狀枝晶組成,熔核底部晶粒垂直于電極端面方向生長(zhǎng)。固溶態(tài)接頭由較粗大的等軸枝晶和柱狀枝晶交錯(cuò)組成,熱影響區(qū)靠近熔合線區(qū)晶粒較小,遠(yuǎn)離熔合線靠近母材區(qū)域晶粒較粗大,熔核底部晶粒生長(zhǎng)方向各異。鈹青銅接頭在拉剪試驗(yàn)中有沿結(jié)合面表面斷裂、沿結(jié)合面中心斷裂和紐扣斷裂三種斷裂機(jī)制,斷裂機(jī)制受熔核尺寸影響。含鎳層接頭組織由等軸枝晶和柱狀枝晶交錯(cuò)組成,熔核中心貫穿著未完全熔化的鎳層,鎳層與銅熔核之間形成寬度不均勻的Cu-Ni固溶體帶層。鎳中間層改變了接頭形成機(jī)理,含鎳層接頭形成過(guò)程經(jīng)歷了潤(rùn)濕鋪展、元素?cái)U(kuò)散、反應(yīng)層長(zhǎng)大三個(gè)階段,最后熔化金屬凝固形成接頭,此時(shí)接頭由銅側(cè)熔核、中間反應(yīng)層及未熔化鎳層三部分組成,接頭強(qiáng)度高于不含鎳層接頭。焊前熱處理改變了鈹青銅薄片的表面硬度,時(shí)效態(tài)接頭接觸電阻高于固溶態(tài),焊后時(shí)效態(tài)接頭性能優(yōu)于固溶態(tài);預(yù)置鎳中間層時(shí),結(jié)合面硬度降低減小了接觸電阻,鎳層自身增大了接頭的體電阻,致使相同工藝下的熱輸入總量升高,此時(shí)熔核尺寸增大且部分鎳層熔化界面連接機(jī)理改變,接頭強(qiáng)度提高。
【關(guān)鍵詞】:熱處理狀態(tài) 中間層 微電阻點(diǎn)焊 接頭性能 接觸電阻
【學(xué)位授予單位】:南昌航空大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:TG453.9
【目錄】:
- 摘要4-5
- Abstract5-9
- 第1章 緒論9-22
- 1.1 選題依據(jù)及意義9-10
- 1.2 鈹青銅及其應(yīng)用10-11
- 1.3 微電阻點(diǎn)焊11
- 1.4 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀11-20
- 1.4.1 表面狀態(tài)對(duì)電阻點(diǎn)焊接頭性能的影響12-16
- 1.4.2 工藝參數(shù)對(duì)微電阻點(diǎn)焊接頭的影響16-17
- 1.4.3 微電阻點(diǎn)焊接頭形成機(jī)理17-18
- 1.4.4 微電阻點(diǎn)焊接頭動(dòng)態(tài)電阻的研究18-20
- 1.5 研究目的和內(nèi)容20-22
- 1.5.1 研究目的20
- 1.5.2 研究?jī)?nèi)容20-22
- 第2章 試驗(yàn)材料、方法及設(shè)備22-26
- 2.1 試驗(yàn)材料22-23
- 2.2 試驗(yàn)方法及設(shè)備23-26
- 2.2.1 試驗(yàn)設(shè)備23
- 2.2.2 試驗(yàn)方法23-24
- 2.2.3 力學(xué)性能測(cè)試24-25
- 2.2.4 顯微分析25-26
- 第3章 熱處理狀態(tài)對(duì)鈹青銅薄片微電阻點(diǎn)焊的影響26-44
- 3.1 熱處理狀態(tài)對(duì)接頭力學(xué)性能的影響26-34
- 3.1.1 拉剪性能26-32
- 3.1.2 顯微硬度32-34
- 3.2 不同熱處理狀態(tài)下接頭斷裂特征34-40
- 3.2.1 熱處理狀態(tài)對(duì)接頭斷裂機(jī)制的影響34-36
- 3.2.2 不同斷裂機(jī)制的斷.微觀形貌分析36-40
- 3.3 熱處理狀態(tài)對(duì)組織結(jié)構(gòu)的影響40-42
- 3.4 本章小結(jié)42-44
- 第4章 鎳中間層對(duì)鈹青銅薄片微電阻點(diǎn)焊的影響44-61
- 4.1 鎳中間層對(duì)組織性能的影響44-48
- 4.1.1 宏觀結(jié)構(gòu)44-45
- 4.1.2 微觀組織45-48
- 4.2 鎳中間層對(duì)接頭力學(xué)性能的影響48-54
- 4.2.1 拉剪性能48-50
- 4.2.2 斷裂特征50-54
- 4.3 鎳中間層對(duì)接頭形成的影響54-60
- 4.4 本章小結(jié)60-61
- 第5章 表面狀態(tài)對(duì)接頭形成過(guò)程的影響61-65
- 5.1 接觸電阻的影響61-63
- 5.2 表面狀態(tài)的影響規(guī)律63-64
- 5.3 本章小結(jié)64-65
- 第6章 結(jié)論65-67
- 參考文獻(xiàn)67-71
- 攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文71-72
- 致謝72-73
【參考文獻(xiàn)】
中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條
1 余亮;陳玉華;倪泉;龔偉懷;柯黎明;;0.3mm厚鍍鎳鋼片微電阻點(diǎn)焊接頭組織性能研究[J];現(xiàn)代焊接;2011年10期
,本文編號(hào):635101
本文鏈接:http://www.sikaile.net/kejilunwen/jinshugongy/635101.html
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