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基于電磁激勵紅外熱成像技術(shù)的金屬構(gòu)件無損檢測

發(fā)布時間:2017-08-01 17:05

  本文關(guān)鍵詞:基于電磁激勵紅外熱成像技術(shù)的金屬構(gòu)件無損檢測


  更多相關(guān)文章: 無損檢測 電磁激勵 紅外熱成像 COMSOL Multiphysics4.3 圖像處理


【摘要】:當(dāng)今是追求品質(zhì)的世紀(jì),產(chǎn)品的品質(zhì)將是未來發(fā)展的主題。掌握先進(jìn)的無損檢測技術(shù)將在激烈的競爭中處于領(lǐng)先地位,它從另一個側(cè)面也反映一個國家工業(yè)的發(fā)展水平。本文研究內(nèi)容是這中背景提出的新型檢測方法-基于電磁激勵的紅外熱成像金屬構(gòu)件的亞表無損檢測方法。該技術(shù)運用紅外熱成像技術(shù)和電渦流加熱技術(shù)檢測試件亞表面缺陷,與以往的檢測方法相比,這種新的檢測方法在效率、精度和操作上都有很大的優(yōu)勢。本文利用有限元仿真和實驗分析兩種手段,對含缺陷金屬試件在感應(yīng)激勵加熱中不同反應(yīng)參數(shù)進(jìn)行研究。運用COMSOL多物理場分析軟件,分別對加熱過程中磁場和磁-熱耦合場建模分析,并采用對比的手法建立亞表面裂紋和無缺陷試件數(shù)學(xué)計算模型、邊界條件和初始值,并給出不同深度缺陷形式下感生電流密度場的分度形式和電磁—熱耦合溫度場分布形式,同時利用討論后的分析參數(shù)模擬激勵時的檢測結(jié)果,判斷磁隙、激勵頻率以及激勵時間對缺陷可能的影響。用PC、交流激勵源、熱像儀、線圈等搭建感應(yīng)激勵熱像無損檢測系統(tǒng),對六組不同缺陷進(jìn)行測試,并且利用數(shù)字圖像處理技術(shù)對采集到的紅外熱圖像進(jìn)行處理。實驗結(jié)果表明感應(yīng)激勵紅外熱像檢測可以成功應(yīng)用于金屬材料亞表面裂紋的檢測,解決無損檢測技術(shù)在亞表面探傷方面的難題。
【關(guān)鍵詞】:無損檢測 電磁激勵 紅外熱成像 COMSOL Multiphysics4.3 圖像處理
【學(xué)位授予單位】:江蘇理工學(xué)院
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號】:TG115.28
【目錄】:
  • 中文摘要3-4
  • ABSTRACT4-7
  • 第一章 緒論7-12
  • 1.1 課題研究的背景及意義7-8
  • 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀8-10
  • 1.3 本論文的主要工作和研究內(nèi)容10-11
  • 1.4 本章小結(jié)11-12
  • 第二章 電磁激勵中磁場分析12-29
  • 2.1 電磁感應(yīng)現(xiàn)象分析12-13
  • 2.2 磁場數(shù)學(xué)建模13-19
  • 2.2.1 基于磁勢矢量的分析13-17
  • 2.2.2 邊界條件分析17-19
  • 2.3 基于COMSOL的磁場分析19-28
  • 2.3.1 磁場分析問題描述19-21
  • 2.3.2 磁隙仿真結(jié)果分析21-22
  • 2.3.3 電流頻率仿真結(jié)果分析22-25
  • 2.3.4 激勵時間仿真結(jié)果分析25-28
  • 2.4 本章小結(jié)28-29
  • 第三章 基于COMSOL的電磁—熱耦合場的仿真分析29-40
  • 3.1 耦合場分析29
  • 3.1.1 耦合場分析方法29
  • 3.2 鐵磁性材料的電磁—熱耦合場分析29-32
  • 3.2.1 電磁-熱耦合中的兩種加熱方式29-31
  • 3.2.1.1 滲透式加熱30
  • 3.2.1.2 傳導(dǎo)式加熱30-31
  • 3.2.2 溫度場瞬態(tài)方程數(shù)學(xué)模型31-32
  • 3.3 溫度場的初始條件和邊界條件32-33
  • 3.3.1 初始條件32
  • 3.3.2 邊界條件32-33
  • 3.4 電磁—熱耦合仿真結(jié)果分析33-39
  • 3.4.1 激勵時間對溫度場的影響33-36
  • 3.4.2 激勵頻率對溫度場的影響36-39
  • 3.5 本章小結(jié)39-40
  • 第四章 感應(yīng)激勵紅外無損檢測實驗平臺搭建40-46
  • 4.1 紅外無損檢測的基本知識40
  • 4.2 紅外相機的原理40-41
  • 4.3 感應(yīng)加熱無損檢測系統(tǒng)41-45
  • 4.3.1 電磁感應(yīng)激勵源的選用41-42
  • 4.3.2 熱像儀的選用42-43
  • 4.3.3 線圈的選用43-44
  • 4.3.4 金屬導(dǎo)體測試實驗44-45
  • 4.4 本章小結(jié)45-46
  • 第五章 紅外無損檢測結(jié)果分析46-55
  • 5.1 實驗數(shù)據(jù)分析46-50
  • 5.2 亞表面缺陷特征量提取50-54
  • 5.3 激勵參數(shù)與亞表面缺陷提取的關(guān)系分析54-55
  • 第六章 總結(jié)與展望55-57
  • 6.1 論文工作總結(jié)55
  • 6.2 未來工作展望55-57
  • 參考 文獻(xiàn)57-61
  • 致謝61-62
  • 攻讀碩士學(xué)位期間的研究成果及發(fā)表的學(xué)術(shù)文章62

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號:605263

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