研究了退火工藝對(duì)Te含量分別為0. 02%、0. 07%、0. 10%的3種Cu-Te合金的力學(xué)與導(dǎo)電性能及組織的影響,測(cè)試了不同退火溫度和不同退火時(shí)間下合金的力學(xué)性能和導(dǎo)電性能,使用掃描電鏡（SEM）研究了Cu-Te合金在不同退火溫度下拉伸斷口的形貌變化。結(jié)果表明:Cu-Te合金斷裂屬于韌性斷裂,斷裂形成的韌窩隨著退火溫度的上升,尺寸變得越大、越深,形狀變得更加圓整;隨著退火溫度與退火時(shí)間的增加,Cu-Te合金的導(dǎo)電率持續(xù)增加,抗拉強(qiáng)度在350～390℃退火1 h時(shí)變化不大,合金處于回復(fù)階段,400℃退火1 h后,抗拉強(qiáng)度大幅度下降,合金處于再結(jié)晶階段; Cu-Te合金經(jīng)過冷變形（ε=96. 5%）后,在400℃退火1 h,獲得最佳的綜合性能。 

【文章來源】：金屬熱處理. 2020,45(06)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

圖4(b)中標(biāo)注的各點(diǎn)的EDS分析

Cu-0.10Te合金在不同溫度退火1 h后的斷口SEM形貌

由圖2可知，Te含量對(duì)Cu-Te合金的性能存在一定的影響，Te元素含量越高，導(dǎo)電率越低，抗拉強(qiáng)度越高，伸長率越差。從圖2(a)可知，退火時(shí)間對(duì)合金的導(dǎo)電率存在一定的影響。隨著退火時(shí)間的增加，合金的導(dǎo)電率逐漸增加，最后趨于穩(wěn)定。主要原因是隨著退火時(shí)間的增長，合金由于冷變形產(chǎn)生的高密度位錯(cuò)逐漸消失，合金組織發(fā)生回復(fù)再結(jié)晶，使得合金的導(dǎo)電率逐漸升高，最后結(jié)晶完成后合金的導(dǎo)電率基本不再變化。由圖2(b)、(c)可知，Cu-Te合金的抗拉強(qiáng)度隨著退火時(shí)間的增加逐漸減小，而伸長率隨退火時(shí)間的增加逐漸增加。圖2 400℃下不同退火時(shí)間對(duì)Cu-Te合金導(dǎo)電率(a)、抗拉強(qiáng)度(b)和伸長率(c)的影響

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本文編號(hào)：3491791