亞共析鋼復相組織中鐵素體晶粒尺寸測定方法
發(fā)布時間:2021-04-13 03:26
亞共析鋼復相組織主相的晶粒尺寸主要采用金相法和掃描電鏡EBSD法。其中,金相法可以測量晶粒尺寸并對其評級,定量測量過程需要手動完成;掃描電鏡EBSD法可對經(jīng)過電解拋光的試樣進行晶粒尺寸的自動測量,借助兩相花樣質(zhì)量的差異,實現(xiàn)對鐵素體+珠光體復相組織中鐵素體晶粒的自動統(tǒng)計。
【文章來源】:中國冶金. 2020,30(08)北大核心
【文章頁數(shù)】:6 頁
【部分圖文】:
20 號鋼熱軋板的微觀組織形貌
采用德國徠卡公司的 Qwin 金相軟件分析 20 號鋼熱軋板的微觀組織,采集照片后用截點法中的平均截距法進行晶粒度的評級。平均截距法計算晶粒度方法如圖2所示。由圖2 可見,20 號鋼熱軋板上 4 條測量線段的總長度為 2 273 μm,使用手動計數(shù)器去除珠光體晶粒,計算得到試樣的鐵素體晶粒的平均截距為 10.05 μm。根據(jù)平均截距值,參照 GB/T 6394—2017《金屬平均晶粒度測定方法》得出 20 號鋼熱軋板中鐵素體的晶粒度為 10 級。
20號鋼熱軋板電解拋光后珠光體組織與鐵素體組織的形貌如圖3所示。由圖3 可見,20 號鋼熱軋板電解拋光后珠光體組織與鐵素體組織不在一個平面內(nèi),所以珠光體組織的圖像清晰度略差于鐵素體組織的圖像,為了讓這個差異更加明顯,在鐵素體組織達到最佳清晰度之后,使焦距朝珠光體組織圖像清晰度變差的方向輕微的失焦,控制在鐵素體組織圖像基本不變的范圍內(nèi)。設(shè)置好焦距狀態(tài)后,即可開始采集圖像、去除背底、選定鐵素體組織晶體參數(shù)和標定 EBSD 花樣等面掃描程序。設(shè)定掃描步長小于鐵素體晶粒直徑的 1/10,且大于珠光體片層間距的長度為宜[6-7],在 200~1 000 倍的放大倍數(shù)下做 EBSD 全視場面掃描。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]基于EBSD技術(shù)的超低碳IF鋼中鐵素體晶粒尺寸表征[J]. 崔桂彬,鞠新華,尹立新,孟楊,溫娟. 材料導報. 2018(S1)
[2]α-Ti晶粒尺寸的EBSD技術(shù)測定方法及分析[J]. 魯法云,楊平,李蕭,孟利. 電子顯微學報. 2011(Z1)
[3]EBSD分析技術(shù)在鎂合金晶粒尺寸表征中的應用[J]. 汪炳叔,辛仁龍,黃光杰,陳興品,劉慶. 電子顯微學報. 2009(01)
[4]電子背散射衍射技術(shù)、幾何晶體學與材料科學[J]. 楊平. 電子顯微學報. 2008(06)
[5]電子背散射衍射分析中的偽對稱性誤標及其克服[J]. 孟利,楊平,李志超,崔鳳娥. 中國體視學與圖像分析. 2007(04)
本文編號:3134525
【文章來源】:中國冶金. 2020,30(08)北大核心
【文章頁數(shù)】:6 頁
【部分圖文】:
20 號鋼熱軋板的微觀組織形貌
采用德國徠卡公司的 Qwin 金相軟件分析 20 號鋼熱軋板的微觀組織,采集照片后用截點法中的平均截距法進行晶粒度的評級。平均截距法計算晶粒度方法如圖2所示。由圖2 可見,20 號鋼熱軋板上 4 條測量線段的總長度為 2 273 μm,使用手動計數(shù)器去除珠光體晶粒,計算得到試樣的鐵素體晶粒的平均截距為 10.05 μm。根據(jù)平均截距值,參照 GB/T 6394—2017《金屬平均晶粒度測定方法》得出 20 號鋼熱軋板中鐵素體的晶粒度為 10 級。
20號鋼熱軋板電解拋光后珠光體組織與鐵素體組織的形貌如圖3所示。由圖3 可見,20 號鋼熱軋板電解拋光后珠光體組織與鐵素體組織不在一個平面內(nèi),所以珠光體組織的圖像清晰度略差于鐵素體組織的圖像,為了讓這個差異更加明顯,在鐵素體組織達到最佳清晰度之后,使焦距朝珠光體組織圖像清晰度變差的方向輕微的失焦,控制在鐵素體組織圖像基本不變的范圍內(nèi)。設(shè)置好焦距狀態(tài)后,即可開始采集圖像、去除背底、選定鐵素體組織晶體參數(shù)和標定 EBSD 花樣等面掃描程序。設(shè)定掃描步長小于鐵素體晶粒直徑的 1/10,且大于珠光體片層間距的長度為宜[6-7],在 200~1 000 倍的放大倍數(shù)下做 EBSD 全視場面掃描。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]基于EBSD技術(shù)的超低碳IF鋼中鐵素體晶粒尺寸表征[J]. 崔桂彬,鞠新華,尹立新,孟楊,溫娟. 材料導報. 2018(S1)
[2]α-Ti晶粒尺寸的EBSD技術(shù)測定方法及分析[J]. 魯法云,楊平,李蕭,孟利. 電子顯微學報. 2011(Z1)
[3]EBSD分析技術(shù)在鎂合金晶粒尺寸表征中的應用[J]. 汪炳叔,辛仁龍,黃光杰,陳興品,劉慶. 電子顯微學報. 2009(01)
[4]電子背散射衍射技術(shù)、幾何晶體學與材料科學[J]. 楊平. 電子顯微學報. 2008(06)
[5]電子背散射衍射分析中的偽對稱性誤標及其克服[J]. 孟利,楊平,李志超,崔鳳娥. 中國體視學與圖像分析. 2007(04)
本文編號:3134525
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