GCr15軸承鋼成品套圈熱處理后點(diǎn)線狀缺陷原因分析
發(fā)布時(shí)間:2021-01-30 01:30
在熱處理后的GCr15成品軸承套圈表面發(fā)現(xiàn)疑似裂紋的點(diǎn)線狀缺陷。通過(guò)無(wú)損檢測(cè)、光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、能譜分析等手段對(duì)缺陷進(jìn)行分析,發(fā)現(xiàn)缺陷處存在較大尺寸的氧化鋁和硅酸鹽復(fù)合夾雜物。通過(guò)采取"高拉碳"、"白渣操作"、"軟吹""保護(hù)澆鑄"等措施后,鋼水純凈度得到進(jìn)一步提高,避免了點(diǎn)線狀缺陷的再次發(fā)生。
【文章來(lái)源】:金屬熱處理. 2020,45(10)北大核心
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【部分圖文】:
軸承套圈的宏觀形貌
圖2(a)是圖1中位置1處疑似裂紋缺陷形貌;圖2(b)是圖1中位置2處點(diǎn)狀缺陷形貌。在顯微鏡下觀察有代表性的位置1和位置2缺陷形貌?梢(jiàn)位置1處缺陷為非裂紋缺陷,缺陷較淺,且基本與機(jī)加工方向平行。缺陷局部可見(jiàn)刮擦痕跡。位置2為典型的表面刮擦損傷缺陷。2.3 缺陷微觀形貌及能譜分析
將位置1和位置2處的缺陷試樣用超聲波清洗機(jī)清洗后,在德國(guó)蔡司EVO18鎢燈絲掃描電鏡下觀察,缺陷位置的微觀形貌見(jiàn)圖3和圖4。圖3是位置1處缺陷微觀形貌和能譜分析。由圖3可見(jiàn)位置1缺陷為一線狀表面損傷缺陷,深度較淺,背散射電子圖像顯示損傷位置底部成分與基體有明顯差異,能譜結(jié)果表明為氧化鋁和硅酸鹽的復(fù)合夾雜物,而且?jiàn)A雜物中還含有較多的K、Na元素。面分布結(jié)果可清晰地顯示出缺陷位置有一條細(xì)長(zhǎng)的夾雜物。圖4 圖1中位置2處的微觀形貌(a,c)、能譜分析(b,d)和元素分布(e~h)
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]軸承鋼微小表面裂紋分析及對(duì)成品影響[J]. 馬永強(qiáng),湯天海,韓斌,李濤,穆立峰. 物理測(cè)試. 2012(06)
[2]興澄GCr15鋼生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量控制探討[J]. 劉興洪,繆新德,蔡燮鰲. 中國(guó)冶金. 2009(01)
本文編號(hào):3007977
【文章來(lái)源】:金屬熱處理. 2020,45(10)北大核心
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【部分圖文】:
軸承套圈的宏觀形貌
圖2(a)是圖1中位置1處疑似裂紋缺陷形貌;圖2(b)是圖1中位置2處點(diǎn)狀缺陷形貌。在顯微鏡下觀察有代表性的位置1和位置2缺陷形貌?梢(jiàn)位置1處缺陷為非裂紋缺陷,缺陷較淺,且基本與機(jī)加工方向平行。缺陷局部可見(jiàn)刮擦痕跡。位置2為典型的表面刮擦損傷缺陷。2.3 缺陷微觀形貌及能譜分析
將位置1和位置2處的缺陷試樣用超聲波清洗機(jī)清洗后,在德國(guó)蔡司EVO18鎢燈絲掃描電鏡下觀察,缺陷位置的微觀形貌見(jiàn)圖3和圖4。圖3是位置1處缺陷微觀形貌和能譜分析。由圖3可見(jiàn)位置1缺陷為一線狀表面損傷缺陷,深度較淺,背散射電子圖像顯示損傷位置底部成分與基體有明顯差異,能譜結(jié)果表明為氧化鋁和硅酸鹽的復(fù)合夾雜物,而且?jiàn)A雜物中還含有較多的K、Na元素。面分布結(jié)果可清晰地顯示出缺陷位置有一條細(xì)長(zhǎng)的夾雜物。圖4 圖1中位置2處的微觀形貌(a,c)、能譜分析(b,d)和元素分布(e~h)
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]軸承鋼微小表面裂紋分析及對(duì)成品影響[J]. 馬永強(qiáng),湯天海,韓斌,李濤,穆立峰. 物理測(cè)試. 2012(06)
[2]興澄GCr15鋼生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量控制探討[J]. 劉興洪,繆新德,蔡燮鰲. 中國(guó)冶金. 2009(01)
本文編號(hào):3007977
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