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鎳基單晶氣膜孔模擬試樣的低周疲勞斷裂機理

發(fā)布時間:2018-03-13 12:18

  本文選題:鎳基單晶合金 切入點:模擬試樣 出處:《稀有金屬材料與工程》2015年05期  論文類型:期刊論文


【摘要】:采用鎳基單晶合金DD6帶不同數(shù)量激光加工氣膜孔的薄壁平板模擬試樣,對其在900℃下的低周疲勞性能進行了研究,并對試驗數(shù)據(jù)和斷口的SEM形貌進行了分析。結果表明:在相同的試驗條件下,氣膜孔的數(shù)量對低周疲勞的壽命影響很大,單孔試樣的壽命約為密排多孔試樣的10倍;氣膜孔周圍存在大量微裂紋,帶氣膜孔試樣的破壞屬于典型的多源斷裂;對于單孔試樣及密排多孔試樣的中間孔,裂紋沿{001}面擴展;密排多孔試樣的上下2排氣膜孔周圍的裂紋沿多個滑移面擴展。
[Abstract]:The low cycle fatigue properties of thin wall plate samples with different number of laser machined gas film holes in DD6 single crystal alloy were studied at 900 鈩,

本文編號:1606371

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