微量稀土元素Sm對Sn-Ag-Cu無鉛釬料組織與性能的影響
本文關(guān)鍵詞:微量稀土元素Sm對Sn-Ag-Cu無鉛釬料組織與性能的影響
更多相關(guān)文章: SnAgCu 釤 熔點 金屬間化合物 剪切強度
【摘要】:隨著電子封裝技術(shù)無鉛化進(jìn)程不斷推進(jìn),無鉛微焊點研究已經(jīng)成電子封裝領(lǐng)域的重要課題之一。Sn-Ag-Cu系釬料合金由于具有低熔點及高可靠性,在實際應(yīng)用過程中被認(rèn)為是替代有鉛釬料的優(yōu)良產(chǎn)品。但其在服役過程中仍存在不足,添加第四項微量合金元素被認(rèn)為是提高無鉛釬料性能有效途徑之一。 本文通過添加微量稀土釤(以下用Sm表述)來改善SnAgCu釬料的不足之處,系統(tǒng)的研究了Sn-3.0Ag-0.5Cu-XSm(X=0,0.025,0.05,0.1,0.2wt.%)釬料的性能、顯微組織以及剪切強度,并對Sm元素的作用機制進(jìn)行了討論。 研究不同Sm含量對于SnAgCu釬料熔點的影響,結(jié)果表明適量Sm元素的加入可以降低SnAgCu釬料熔點,隨著Sm含量的增加熔點而先降低后升高,當(dāng)Sm含量在釬料中所占比例為0.1wt.%時熔點最低為217.19℃。 采用鋪展面積的方法研究了不同Sm含量對SnAgCu釬料潤濕性能的影響。結(jié)果表明,適量Sm元素的添加可以改善SnAgCu釬料的潤濕性能,當(dāng)稀土元素Sm的含量在0.05wt.%時潤濕性能最佳,但由于稀土元素的氧化性,,過多的添加會由于氧化作用的存在而降低釬料的潤濕性。 利用掃描電鏡(SEM)和AutoCAD軟件研究了不同Sm含量對時效前后焊點界面化合物顯微組織形貌及厚度的影響。Sm含量在0.05%時,界面化合物形貌變得趨于平整均勻,釬料與界面化合物的過渡緩和;Sm含量在0.025-0.1%之間,界面化合物厚度明顯較薄。時效后,含有稀土元素Sm的界面形貌相對于無Sm組別更加平整,隨著Sm含量的增加,界面化合物的厚度先降低后升高。釬料中含有稀土元素Sm時,時效后界面化合物增長的厚度較小。 研究不同Sm含量對直徑為1000μm無鉛微焊點在PCB板上剪切強度的影響,并做了400h時效實驗。結(jié)果顯示時效前當(dāng)稀土元素Sm含量為0.05%時剪切強度達(dá)到最大值。時效400h后,隨著稀土元素Sm含量的增加,焊點的剪切強度先升高后降低,釬料中含有稀土元素Sm時,其剪切強度更高。
【關(guān)鍵詞】:SnAgCu 釤 熔點 金屬間化合物 剪切強度
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱理工大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號】:TG425
【目錄】:
- 摘要5-6
- Abstract6-10
- 第1章 緒論10-18
- 1.1 引言10
- 1.2 課題研究背景10-13
- 1.2.1 Sn-Pb 釬料的不足10-11
- 1.2.2 禁鉛立法11-13
- 1.3 電子封裝研究現(xiàn)狀13
- 1.4 無鉛釬料研究現(xiàn)狀13-15
- 1.5 稀土元素在電子封裝無鉛釬料中的作用15-16
- 1.6 本論文研究意義及內(nèi)容16-18
- 第2章 研究材料與方法18-24
- 2.1 引言18
- 2.2 釬料合金制備18-20
- 2.3 釬料熔點實驗20
- 2.4 釬料潤濕性實驗20
- 2.5 界面金屬間化合物的顯微觀察20
- 2.6 剪切試驗20-22
- 2.6.1 BGA 焊點的制作20-21
- 2.6.2 剪切測量原理21-22
- 2.6.3 剪切測量方法22
- 2.7 等溫時效試驗22-23
- 2.8 本章小結(jié)23-24
- 第3章 稀土元素 Sm 對于 SAC305 釬料熔點及潤濕性的影響24-30
- 3.1 引言24
- 3.2 稀土元素 Sm 的加入對于釬料熔點的影響24-27
- 3.3 稀土元素 Sm 的加入對于釬料潤濕性的影響27-29
- 3.4 本章小結(jié)29-30
- 第4章 稀土元素 Sm 對于 SAC305/Cu 焊點界面及顯微組織的影響30-39
- 4.1 引言30
- 4.2 時效前 SnAgCu-XSm/Cu 焊點界面形貌、界面化合物厚度及顯微組織30-35
- 4.2.1 時效前 SnAgCu-XSm/Cu 焊點界面形貌30-31
- 4.2.2 時效前 SnAgCu-XSm 焊點界面化合物厚度31-33
- 4.2.3 時效前 SnAgCu-XSm/Cu 釬料顯微組織33-35
- 4.3 時效后 SnAgCu-XSm/Cu 焊點界面形貌、界面化合物厚度及顯微組織35-38
- 4.3.1 時效后 SnAgCu-XSm/Cu 焊點界面形貌35-36
- 4.3.2 時效后 SnAgCu-XSm/Cu 焊點界面化合物厚度36-37
- 4.3.3 時效后 SnAgCu-XSm/Cu 焊點顯微組織形貌37-38
- 4.4 本章小結(jié)38-39
- 第5章 稀土元素 Sm 對于 SAC305/Cu 焊點剪切強度的影響39-43
- 5.1 引言39
- 5.2 時效前 SnAgCu-XSm/Cu 焊點最大剪切強度39-41
- 5.3 時效后 SnAgCu-XSm/Cu 焊點最大剪切強度41-42
- 5.4 本章小結(jié)42-43
- 結(jié)論43-44
- 參考文獻(xiàn)44-48
- 攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文48-49
- 致謝49
【參考文獻(xiàn)】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 郝虎;田君;史耀武;雷永平;夏志東;;SnAgCuY系稀土無鉛釬料顯微組織與性能研究[J];稀有金屬材料與工程;2006年S2期
2 陳志剛,史耀武,夏志東;微量混合稀土對SnAgCu釬料合金性能的影響[J];電子工藝技術(shù);2003年02期
3 甘貴生;杜長華;甘樹德;;電子微連接高溫?zé)o鉛釬料的研究進(jìn)展[J];功能材料;2013年S1期
4 張亮;韓繼光;何成文;郭永環(huán);張劍;;熱循環(huán)對SnAgCu(納米Al)/Cu焊點界面與性能影響[J];材料工程;2014年03期
5 陳寰貝;龐學(xué)滿;胡進(jìn);程凱;;航空航天用電子封裝材料及其發(fā)展趨勢[J];電子與封裝;2014年05期
6 李波;劉心宇;黃錫文;葉凡;張小文;張琪;陳光明;;微量添加In對Ag-Sn合金粉末氧化機理的影響[J];稀有金屬材料與工程;2014年08期
7 王煒;;印制電路板(PCB)板件焊接工藝流程[J];東方電氣評論;2014年01期
8 林健;高鵬;雷永平;溫桂琛;吳中偉;;銀含量對無鉛釬料接頭抗跌落性能的影響[J];電子元件與材料;2014年10期
9 馬倩;靳燾;宗同強;曾瑜;計紅果;韓亞冬;;印制電路板通孔電鍍銅添加劑的研究[J];電鍍與涂飾;2014年24期
10 黃明亮;趙寧;;電子封裝技術(shù)[J];國際學(xué)術(shù)動態(tài);2014年04期
本文編號:1121693
本文鏈接:http://www.sikaile.net/kejilunwen/jinshugongy/1121693.html