為了解決有限口徑下,尚需采用雙/多模復(fù)合制導(dǎo)探測(cè)的問(wèn)題,從干涉儀測(cè)向的基本原理出發(fā),提出了一種高精度、無(wú)模糊非均勻圓陣列干涉儀測(cè)向天線(xiàn)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法,該方法基于參差基線(xiàn)解模糊的思想,布設(shè)單元天線(xiàn)。數(shù)學(xué)分析和仿真結(jié)果均表明該方法合理有效可行。 

【文章來(lái)源】：現(xiàn)代防御技術(shù). 2020,48(02)

【文章頁(yè)數(shù)】：5 頁(yè)

【部分圖文】：

合成角誤差

如圖1所示是由2個(gè)天線(xiàn)組成的單基線(xiàn)干涉儀，平面電磁波從與天線(xiàn)口面夾角為θ的方向入射到天線(xiàn)1,2，電磁波到達(dá)2個(gè)天線(xiàn)的波程差為dcosθ，則由波程差引起的相位差為通過(guò)鑒相器得到的相位差φ應(yīng)為區(qū)間[-π，π]中的一定值，但當(dāng)基線(xiàn)長(zhǎng)度，則將會(huì)產(chǎn)生[2n-π，2n+π]，n∈Z的現(xiàn)象，即為測(cè)角模糊現(xiàn)象。

如圖2所示是圓陣列干涉儀天線(xiàn)系統(tǒng)，在雷達(dá)導(dǎo)引頭測(cè)量坐標(biāo)系中，天線(xiàn)1,2,3,4分布在半徑為r的圓周上，其坐標(biāo)分別為(0,r,0),(0,0,-r),(0,-r,0),(0,0,r);為了獲得最大的角精度，則必將利用d13,d24作為基線(xiàn)進(jìn)行相位差測(cè)角。根據(jù)上述干涉儀測(cè)角原理，可知兩對(duì)干涉儀的輸出將會(huì)出現(xiàn)測(cè)角模糊現(xiàn)象。2 改進(jìn)型圓陣列無(wú)模糊長(zhǎng)基線(xiàn)干涉儀測(cè)向的天線(xiàn)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

【參考文獻(xiàn)】：
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