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基于FPGA的殉爆試驗測試技術(shù)研究

發(fā)布時間:2020-05-31 03:17
【摘要】:隨著世界軍事科技水平的飛速發(fā)展,各類火藥、雷管等易爆品的產(chǎn)量直線上升,這類易爆品爆炸往往會導致殉爆的產(chǎn)生,并帶來持續(xù)毀滅性傷害。定量評估各類易爆品的殉爆刺激量和殉爆安全距離,必須設(shè)計合理的殉爆試驗,測試并分析相關(guān)試驗數(shù)據(jù)。因此殉爆測試技術(shù)的研究和殉爆測試裝置的設(shè)計具有很高的實用價值。本文對殉爆現(xiàn)象以及殉爆測試技術(shù)進行了較深入的分析與研究,分析了目前國內(nèi)外沖擊波、振動和破片測試的研究現(xiàn)狀,結(jié)合存儲測試技術(shù)以及破片區(qū)截測速技術(shù),設(shè)計了一套殉爆測試系統(tǒng),針對性地測試沖擊波壓力、振動加速度以及破片速度三個參數(shù)。本文設(shè)計的殉爆測試系統(tǒng)分為存儲測試儀和破片速度測試儀兩個子系統(tǒng)。對于存儲測試儀子系統(tǒng)設(shè)計,硬件平臺采用FPGA作為核心控制器,并配有高速ADC、大容量Flash以及USB通信接口等電路;系統(tǒng)控制邏輯上,實現(xiàn)了AD轉(zhuǎn)換、Flash操作和USB通信等邏輯功能;軟件設(shè)計上,實現(xiàn)了Nios Ⅱ軟核搭建及程序設(shè)計,并基于MFC設(shè)計了一套上位機軟件。破片速度測試儀子系統(tǒng)完成硬件電路設(shè)計和控制邏輯實現(xiàn)兩個部分。文中給出了兩個子系統(tǒng)的詳細設(shè)計方案及設(shè)計流程。論文最后,通過仿真分析和模擬實驗對本文設(shè)計的兩個子系統(tǒng)進行了功能測試,驗證了各項功能和技術(shù)指標。實驗結(jié)果表明:本文所設(shè)計的系統(tǒng)具有存儲容量大、數(shù)據(jù)傳輸速度快、計時分辨率高、功耗低等優(yōu)點,具有良好的應(yīng)用前景。
【學位授予單位】:南京理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TQ560.72

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本文編號:2689194

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