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退火溫度對Ti/IrO 2 -Ta 2 O 5 電極的結(jié)構(gòu)和電容性能的影響

發(fā)布時間:2023-04-28 18:13
  采用熱分解法在Ti基體上制備了Ti/IrO2-Ta2O5氧化物電極涂層。采用X射線衍射、循環(huán)伏安、恒流充放電、交流阻抗等方法對其組織結(jié)構(gòu)和電化學(xué)性能之間的關(guān)系進行了詳細研究。結(jié)果表明:溫度低于350℃的電極以非晶態(tài)的形式存在,當(dāng)溫度為370℃時,金紅石衍射峰出現(xiàn),說明在350370℃范圍為電極的臨界結(jié)晶溫度區(qū)間。370℃下制備的電極具有最大的積分電量,電量損失率最小,比電容達到最大值,為239.2 F/g。隨溫度升高,電荷轉(zhuǎn)移電阻Rct總體呈下降趨勢。

【文章頁數(shù)】:7 頁

【文章目錄】:
1 實驗材料及方法
    1.1 電極的制備
    1.2 電極的測試與表征
2 結(jié)果與討論
    2.1 XRD物相分析
    2.2 退火溫度對電極的循環(huán)伏安曲線的影響
    2.3 電極的功率特性分析
    2.4 交流阻抗譜的分析
    2.5 充放電曲線的分析
3 結(jié)論



本文編號:3804216

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