鈦及其合金由于優(yōu)良的綜合性能,在國防和國民經(jīng)濟領域得到大規(guī)模的應用。除受簡單拉/壓載荷外,材料在服役期間還因疲勞、往復等復雜加載發(fā)生變形而導致?lián)p傷及失效。本文以工業(yè)純鈦為研究對象,壓縮初始樣品產(chǎn)生預制變形孿晶,利用電解拋光工藝獲得可同時進行數(shù)字圖像相關（DIC）計算和電子背散射衍射（EBSD）表征的表面形貌。結合原位掃描電子顯微鏡（SEM）與EBSD技術觀察拉伸過程中的微觀組織形貌演化,并通過DIC技術分析介觀尺度的應變不均勻性。選用高氯酸和甲醇混合液為電解液對預壓縮純鈦進行電解拋光,調(diào)節(jié)電解拋光電壓和電流調(diào)控試樣表面形貌,當電解拋光電壓和電流分別為16 V和8.30-9.30 mA·mm^-2時,微米級的散斑均勻分布,EBSD標定率96%,電解拋光效果最佳。運用原位EBSD技術研究單軸拉伸下預壓縮純鈦的退孿晶行為。研究結果表明,工業(yè)純鈦沿軋制方向發(fā)生大應變壓縮變形時,大量的{10-12}拉伸孿晶形成,并呈現(xiàn)平行分布和交叉分布,其中交叉分布的孿晶在拉伸變形中退孿晶比例較低。變形過程中Schmid因子與退孿晶比例呈現(xiàn)正相關的關系,相同拉伸變形下Schmid因子大于0.... 

【文章來源】：西南交通大學四川省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：65 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

純鈦的晶體結構

圖 1-2 純鈦的滑移系晶體結構示意圖[16]位錯的滑移是指微觀尺度下一部分原子在切應力作用下沿特定的晶面和晶向進體平移的一種變形模式。位錯根據(jù)其變形特征包括刃型、螺型和混合型位錯。根形情況的區(qū)別可包括單滑移、交滑移和攀移。在變形時，加載條件需要達到一定移啟動閥值，即勢壘。該閥值源于進行克服原子固溶阻力、點陣阻力以及位錯的

圖 1-3 Schmid 因子示意圖材料變形的臨界分切應力，圖 1-3 中 和面之間的夾角，cos cos 稱做 Schmid 因即可得出 Schmid 定律，即當滑移面和滑

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3547167