軸承球體的表面缺陷對軸承品質(zhì)有重要影響,它直接影響到軸承的使用壽命、精度和運(yùn)動(dòng)性能,因此對于球體表面缺陷的檢測是至關(guān)重要的。而傳統(tǒng)的人工檢測方法由于其效率低下、工人勞動(dòng)強(qiáng)度大等諸多劣勢,已難以滿足市場對高品質(zhì)軸承的要求,故軸承球體表面缺陷檢測迫切需要一種高精度、高效率的球體自動(dòng)化檢測設(shè)備。光學(xué)測量具有很高的靈敏度和精度,是一種理想的超精密檢測手段�；诖�,本文搭建了適用于球體表面微小缺陷非接觸式檢測的實(shí)驗(yàn)平臺,主要工作如下:(1)基于激光散射和剪切干涉原理,設(shè)計(jì)了適用于微小缺陷檢測的光路系統(tǒng),并設(shè)計(jì)和搭建了整個(gè)光路系統(tǒng)的機(jī)械架構(gòu)及光電信號采集系統(tǒng),通過對標(biāo)定板的重復(fù)性檢測實(shí)驗(yàn),驗(yàn)證了光路系統(tǒng)的檢測精度可以到達(dá)4μm。(2)分析了子午線形式和螺旋線形式展開在均勻性檢測上的區(qū)別。研究了球體螺旋線展開的條件。設(shè)計(jì)了球體展開機(jī)構(gòu)及展開機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),搭建了球體展開機(jī)構(gòu)運(yùn)動(dòng)平臺。(3)基于球體展開運(yùn)動(dòng)學(xué)的分析,建立仿真模型,利用ADAMS仿真軟件仿真球體運(yùn)動(dòng)時(shí)檢測探頭的檢測軌跡。通過設(shè)定不同的仿真運(yùn)動(dòng)參數(shù),探究進(jìn)動(dòng)角速度以及自轉(zhuǎn)角速度對展開軌跡的影響。研究得到,球體展開最優(yōu)角速度的組合應(yīng)為進(jìn)動(dòng)角... 

【文章來源】：浙江工業(yè)大學(xué)浙江省

【文章頁數(shù)】：82 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

高精度軸承球體[6]

第 2 章 軸承球體表面缺陷檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)測，并且有效地檢測球體表面的各種微小缺陷，在一個(gè)裝置中設(shè)計(jì)于檢測表面缺陷的光路。，散射光路和剪切干涉光路在聚焦光路及部分接受光路上是完全相抑制由于光路本身造成的在兩種測量方法上的誤差�；诩す馍⑸錅y光路系統(tǒng)，主要包括偏振激光器，偏振片 1 和分光棱鏡 BS 設(shè)置方向。分光棱鏡的反射出光側(cè)依次布置 1/2 波片、渥氏棱鏡和物鏡的另一側(cè)為被測面；反射鏡布置于分光棱鏡的折射出光側(cè)，反射鏡偏振片 2、匯聚鏡 2 以及用于接收剪切干涉檢測信號的光電探測光棱鏡、1/2 波片、渥氏棱鏡和物鏡位于同一光軸上。該光路系統(tǒng)聚鏡 1 位于反射鏡遠(yuǎn)離分光棱鏡的一側(cè)，匯聚鏡 1 的出光方向與用的光電探測器 APD 一致，匯聚鏡 1 與分光棱鏡位于同一光軸上。

圖 2-6 前置放大電路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集卡圖 2-7 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)功能框圖采集系統(tǒng)由數(shù)據(jù)采集卡、工控機(jī)、數(shù)據(jù)采集與處理軟件構(gòu)成。光電探測器模擬信號，不能直接被計(jì)算機(jī)識別，所以必須通過數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行電壓采轉(zhuǎn)換。外界的光電信號由微光探測器接收信號，該信號經(jīng)過采集卡的模擬


本文編號：2945216