影響電腦硬盤垂直記錄磁頭寫頭鍍層均勻性的因素
發(fā)布時間:2017-09-21 13:28
本文關(guān)鍵詞:影響電腦硬盤垂直記錄磁頭寫頭鍍層均勻性的因素
更多相關(guān)文章: 垂直記錄磁頭 寫頭 鐵鈷鎳合金 電鍍 均勻性 影響因素
【摘要】:討論了在電腦硬盤垂直記錄磁頭寫頭電鍍FeCoNi合金時電鍍基層、晶片設(shè)計、電鍍掛架、電鍍速率、電流密度以及電鍍液pH和溫度等因素對鍍層厚度及成分均勻性的影響。
【作者單位】: 新鄉(xiāng)醫(yī)學(xué)院第二附屬醫(yī)院河南省生物精神病學(xué)重點實驗室;中國聯(lián)合網(wǎng)絡(luò)通信有限公司新鄉(xiāng)市分公司;
【關(guān)鍵詞】: 垂直記錄磁頭 寫頭 鐵鈷鎳合金 電鍍 均勻性 影響因素
【分類號】:TP333.35;TQ153
【正文快照】: 機械式電腦硬盤容量不斷地增加,使用縱向記錄技術(shù)(longitudinal magnetic recording,LMR)生產(chǎn)的電腦硬盤磁頭已經(jīng)無法實現(xiàn)此目的[1],必須利用垂直記錄技術(shù)(perpendicular magnetic recording,PMR)[2]。兩種技術(shù)的主要區(qū)別在于硬盤磁頭的寫頭(writer)需要不同的材料、形狀及厚
【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號:894775
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