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沖旋對(duì)撞粉碎技術(shù)的微觀理論基礎(chǔ)

發(fā)布時(shí)間:2021-07-15 13:25
  從硅晶體變形的力學(xué)基礎(chǔ)、晶體變形力學(xué)模型、力能流的粉碎效能、硅晶體粉碎過程4方面深入闡述了沖旋對(duì)撞粉碎技術(shù)的微觀理論基礎(chǔ)。 

【文章來源】:有機(jī)硅材料. 2020,34(02)

【文章頁數(shù)】:7 頁

【部分圖文】:

沖旋對(duì)撞粉碎技術(shù)的微觀理論基礎(chǔ)


原子結(jié)合力、勢(shì)能與間距的關(guān)系

原子,勢(shì)能


為更深入掌握物料粉碎微觀理論,下文介紹了原子在受拉、劈、切等外力作用時(shí)的原子鍵變形狀況。圖2為原子在拉伸作用下力和能的變化。原子鍵長度為a0時(shí),勢(shì)能和動(dòng)能均最低。在拉伸作用下,a逐漸增大,直至am時(shí)原子間結(jié)合力最大,伴隨著拉力(Fb)進(jìn)一步增大,原子鍵斷裂,外加拉伸能量Pb為原子結(jié)合勢(shì)能所吸收,以此提高本身勢(shì)能和動(dòng)能,原子的晶格振動(dòng)增大,穩(wěn)定性降低,原子活性增強(qiáng)。

曲線,拍擊,微觀,晶體


擠壓外力多點(diǎn)施加于晶粒上,首先引起受壓(迫擊)面層原子晶格受壓,原子鍵縮短,斥力增大,迫使附近晶格傳遞外力,引起原子外移(見圖3),拉伸原子鍵至斷裂,晶體出現(xiàn)裂紋和裂縫,并逐漸碎裂。這與硅抗壓試驗(yàn)中,晶體在受力時(shí)的宏觀表現(xiàn)一致:先外層開裂,裂縫直下,繼而斜向(約45°)伸展、碎裂[6]。圖4的抗壓強(qiáng)度曲線演示了脆性物料(如工業(yè)硅)拍擊粉碎時(shí)的應(yīng)力應(yīng)變過程。受力初期,應(yīng)力近直線增長,此時(shí)晶體壓縮、原子鍵變短、斥力增大;待原子鍵不能再壓縮傳力時(shí),抗力不增,開始向周邊晶格傳力,出現(xiàn)小的變形,顯示出短暫的混沌臨界順?biāo)槎,緊接著引起周邊晶格原子鍵拉長,抗力增大,鍵受損并出現(xiàn)裂紋,轉(zhuǎn)向45°傾斜開裂,鍵斷裂,碎裂程度大、面積廣,得到細(xì)碎硅粉粒。2.2 劈擊碎裂

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]硅粉品質(zhì)優(yōu)化技術(shù)[J]. 常森,余敏.  有機(jī)硅材料. 2019(03)
[2]硅粉反應(yīng)活性與對(duì)撞粉碎效用[J]. 常森,周功均,余敏.  有機(jī)硅材料. 2017(01)



本文編號(hào):3285790

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