基于模型勢和密度泛函方法對團簇的穩(wěn)定結構研究
發(fā)布時間:2021-08-13 15:39
團簇因其獨特的理化性質受到廣泛的關注并成為凝聚態(tài)物理、材料等科學領域熱門的研究課題之一。團簇在勢能曲面上的局部極小值的數(shù)量非常龐大,且構型隨團簇尺寸呈指數(shù)增長,故團簇的結構優(yōu)化是非常困難的。以模型勢和密度泛函方法作為理論方法,探究團簇的穩(wěn)定結構在結構和性質上存在的規(guī)律。其主要內容如下:1.利用自適應免疫優(yōu)化算法及Gupta多體勢模型對38原子Ag–Au–Pd–Pt團簇結構進行優(yōu)化。研究了不同類型貴金屬摻雜三元團簇幾何構型的影響。結果表明,大多數(shù)構型都呈現(xiàn)出基于19-原子的雙二十面體的生長模式。此外,序列參數(shù)表明,在四元團簇中Ag和Au原子主要占據(jù)表面位置,Pd原子傾向于處于中間的殼層,而內殼層則由Pt原子所處。對化學鍵數(shù)目的研究具有類似結果。2.利用四個參數(shù)組的Gupta勢函數(shù)對Co團簇的勢能面(PES)以構象分析形式來表征。其結構是使用三個不同的優(yōu)化算法獲得的。研究發(fā)現(xiàn)存在三個新的最穩(wěn)定結構。對于所有參數(shù)集,從二十面體到十面體的結構變化到密堆積型面心立方(FCC)或堆垛FCC和無定形構型與參數(shù)的勢能范圍有關。PES之間的差異表明對于長的勢能范圍參數(shù),PES上局部極小值的數(shù)目是非常大的...
【文章來源】:安慶師范大學安徽省
【文章頁數(shù)】:59 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
實線為全局最優(yōu)化方法的搜索過程,虛線則是改變的勢能面
團簇表面上虛擬格點的示意圖
圖 1 Ag6Au6Pd6、Ag6Au6Pt6、Ag6Pd6Pt6和 Au6Pd6Pt6團簇的穩(wěn)定結構圖 2–5 均為假定所有的全局最小值均位于 14/100 以上的重復率的 AIO 次獨立運行中得到的結果。圖 2 中 Ag1Au6Pd6Pt6團簇是 19 原子的 M
【參考文獻】:
期刊論文
[1]過渡金屬輕元素化合物高硬度多功能材料的設計[J]. 包括,馬帥領,徐春紅,崔田. 物理學報. 2017(03)
[2]高壓下YB6的電子結構與光學性質的第一性原理研究[J]. 張麗. 原子與分子物理學報. 2016(06)
[3]硼團簇、硼烷及金屬硼化物的研究現(xiàn)狀[J]. 沈艷芳,徐暢,黃敏,王海燕,程龍玖. 化學進展. 2016(11)
[4]Ti2Bn(n=1—10)團簇的結構與穩(wěn)定性:基于從頭算的研究[J]. 王轉玉,康偉麗,賈建峰,武海順. 物理學報. 2014(23)
[5]CoBn(n≤19)團簇結構、電子性質和磁性的密度泛函理論研究[J]. 劉火雁,雷雪玲,劉志鋒,劉立仁,祝恒江. 原子與分子物理學報. 2012(01)
[6]淺談團簇的理論研究方法及現(xiàn)狀[J]. 黨隨虎. 科技資訊. 2007(25)
[7]團簇研究中的原子間勢函數(shù)[J]. 蔡文生,林翼,邵學廣. 化學進展. 2005(04)
本文編號:3340695
【文章來源】:安慶師范大學安徽省
【文章頁數(shù)】:59 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
實線為全局最優(yōu)化方法的搜索過程,虛線則是改變的勢能面
團簇表面上虛擬格點的示意圖
圖 1 Ag6Au6Pd6、Ag6Au6Pt6、Ag6Pd6Pt6和 Au6Pd6Pt6團簇的穩(wěn)定結構圖 2–5 均為假定所有的全局最小值均位于 14/100 以上的重復率的 AIO 次獨立運行中得到的結果。圖 2 中 Ag1Au6Pd6Pt6團簇是 19 原子的 M
【參考文獻】:
期刊論文
[1]過渡金屬輕元素化合物高硬度多功能材料的設計[J]. 包括,馬帥領,徐春紅,崔田. 物理學報. 2017(03)
[2]高壓下YB6的電子結構與光學性質的第一性原理研究[J]. 張麗. 原子與分子物理學報. 2016(06)
[3]硼團簇、硼烷及金屬硼化物的研究現(xiàn)狀[J]. 沈艷芳,徐暢,黃敏,王海燕,程龍玖. 化學進展. 2016(11)
[4]Ti2Bn(n=1—10)團簇的結構與穩(wěn)定性:基于從頭算的研究[J]. 王轉玉,康偉麗,賈建峰,武海順. 物理學報. 2014(23)
[5]CoBn(n≤19)團簇結構、電子性質和磁性的密度泛函理論研究[J]. 劉火雁,雷雪玲,劉志鋒,劉立仁,祝恒江. 原子與分子物理學報. 2012(01)
[6]淺談團簇的理論研究方法及現(xiàn)狀[J]. 黨隨虎. 科技資訊. 2007(25)
[7]團簇研究中的原子間勢函數(shù)[J]. 蔡文生,林翼,邵學廣. 化學進展. 2005(04)
本文編號:3340695
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