波長檢測型表面等離子體共振傳感器對硫堇電聚合成膜的原位分析
發(fā)布時間:2018-06-07 22:38
本文選題:表面等離子體共振 + 電化學(xué)聚合 ; 參考:《高等學(xué);瘜W(xué)學(xué)報》2017年04期
【摘要】:利用波長檢測型表面等離子體共振(SPR)傳感器對硫堇在金膜表面的電化學(xué)聚合成膜過程進(jìn)行了跟蹤分析.結(jié)果表明,在固定入射角下SPR共振波長隨循環(huán)伏安掃描周數(shù)的增加而線性紅移,表明聚硫堇膜的生長是勻速的;掃描100周后共振波長紅移總量為96.6 nm.對該實驗結(jié)果進(jìn)行理論擬合,得出聚硫堇膜的厚度約為71 nm.聚硫堇膜在酸性緩沖液中的電化學(xué)活性很高,其電化學(xué)反應(yīng)過程受擴散控制,在一個完整的循環(huán)伏安掃描過程中SPR共振波長的變化完全可逆,說明聚硫堇膜的氧化反應(yīng)和還原反應(yīng)是一對可逆過程.與還原態(tài)聚硫堇膜相比,氧化態(tài)聚硫堇膜對應(yīng)的SPR共振波長較大,說明氧化態(tài)聚硫堇膜折射率高.
[Abstract]:The results show that the SPR resonant wavelength is uniform at fixed angle of incidence , and the total amount of the resonant wavelength is 96 . 6 nm after 100 weeks of scanning . The results of this experiment are theoretically fitted to show that the thickness of the polythionine film is about 71 nm . The oxidation reaction and reduction reaction of the polythionine film are completely reversible . The SPR resonance wavelength corresponding to the oxidized polythionine film is larger than that of the reduced polysulfide .
【作者單位】: 中國科學(xué)院電子學(xué)研究所傳感技術(shù)國家重點實驗室;中國科學(xué)院大學(xué);國民核生化災(zāi)害防護(hù)國家重點實驗室;
【基金】:國家“九七三”計劃項目(批準(zhǔn)號:2015CB352100) 國家自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號:61377064,61675203) 中國科學(xué)院科研裝備研制項目(批準(zhǔn)號:YZ201508)資助~~
【分類號】:O657.1
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本文編號:1993091
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