本文關鍵詞：一種基于熱釋電效應的X射線熒光分析譜儀

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【摘要】：利用熱釋電晶體實現了一個X射線激發(fā)源,并以此激發(fā)源和高能量分辨率的硅漂移探測器構建了一個X射線熒光分析譜儀。首先通過分析計算熱釋電晶體厚度和靶厚度對產生X射線的影響選定了激發(fā)源的設計參數;然后測量了激發(fā)源發(fā)射的X射線本底,其能量范圍在1~27keV,包含有Cu和Ta的特征X射線,最大強度在每秒3 000個計數以上,對本底的測量同時顯示出譜儀的探測器部分對Cu的8.05keV特征峰的分辨率達到210eV,具有很高的能量分辨率;最后使用該譜儀測試了Fe,Ti和Cr等三種單質樣品和高鈦玄武巖樣品,測試結果表明該譜儀可以有效的分析出樣品的元素成分。由于這種X射線熒光分析譜儀的各組成部分體積都很小,進一步便攜化后非常適合于非破壞、現場和快速的元素分析場合。
【作者單位】： 中國科學院高能物理研究所粒子天體物理重點實驗室;中國科學院大學;
【基金】：國家自然科學基金項目(11105161)資助
【分類號】：O657.34
【正文快照】： 引言X射線熒光分析作為一種成熟的元素分析方法已經被廣泛應用于冶金、地質和建筑等各個領域[1]。X射線熒光分析儀有光譜儀和能譜儀兩種類型,其中能譜儀通過測量X射線熒光光子的能量來鑒別元素成分,具有設備更小、更簡單、無需制備樣品等優(yōu)點,尤其適用于非破壞、快速和現場分

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