放射性污染通過α、β表面污染儀來(lái)檢測(cè)污染是否發(fā)生或已有效去除。大面積α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源常用來(lái)檢定或校準(zhǔn)這些儀器,而帶有無(wú)窗式正比計(jì)數(shù)器的2πα、2πβ粒子發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)裝置常用來(lái)校準(zhǔn)這些大面積α、β平面源。實(shí)驗(yàn)室常用的2πα、2πβ粒子發(fā)射率測(cè)量裝置采用體積龐大的NIM插件系統(tǒng),不易攜帶至現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行發(fā)射率測(cè)量。本論文采用模塊化的設(shè)計(jì)方法,結(jié)合高集成度的CPLD器件,研制了一套新型2πα、2πβ粒子發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)裝置。儀器體積小,易攜帶,可滿足發(fā)射率現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的要求。系統(tǒng)設(shè)計(jì)可分為硬件電路設(shè)計(jì)、嵌入式程序設(shè)計(jì)和上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)三大部分。其中硬件電路設(shè)計(jì)包括了探測(cè)器的選型、前置放大器的設(shè)計(jì)、系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)、信號(hào)調(diào)理電路設(shè)計(jì)、信號(hào)甄別電路設(shè)計(jì)、信號(hào)提取電路設(shè)計(jì)以及CPLD、MCU硬件電路設(shè)計(jì)和串口通訊電路設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了從探測(cè)器輸出電荷脈沖信號(hào)到電壓脈沖信號(hào)峰值的保持、采集、量化的過程,然后由MCU將脈沖幅值信息通過串口發(fā)送至上位機(jī);嵌入式軟件設(shè)計(jì)主要包括了對(duì)CPLD模塊、MCU模塊、串口通信協(xié)議的設(shè)計(jì);上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)包括能譜測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)和率表測(cè)量系統(tǒng)的建立,實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的采集與處理、文件的存儲(chǔ)與打開等功能。本論... 

【文章來(lái)源】：中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(北京)北京市 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：69 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

探測(cè)器實(shí)物圖

電源電路拓?fù)湓O(shè)計(jì)圖

原始電壓脈沖信號(hào)


本文編號(hào)：2900464