可制造性設(shè)計在航天電子產(chǎn)品中的應(yīng)用研究
發(fā)布時間:2021-09-07 02:01
以航天高可靠性測試設(shè)備為例,在產(chǎn)品設(shè)計及生產(chǎn)的全過程中考量可制造性設(shè)計的關(guān)鍵點,給出了航天高可靠性設(shè)備的PCB可制造性設(shè)計的有效舉措,并對整機(jī)和單元模塊的可制造性設(shè)計規(guī)范進(jìn)行了分析,包括熱設(shè)計和結(jié)構(gòu)設(shè)計,對于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性具有一定的參考意義。
【文章來源】:電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗. 2020,38(01)
【文章頁數(shù)】:4 頁
【部分圖文】:
PCB的結(jié)構(gòu)示意圖
風(fēng)扇散熱
本文編號:3388630
【文章來源】:電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗. 2020,38(01)
【文章頁數(shù)】:4 頁
【部分圖文】:
PCB的結(jié)構(gòu)示意圖
風(fēng)扇散熱
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