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太陽電池陣等離子體環(huán)境下功率泄漏試驗(yàn)研究

發(fā)布時(shí)間:2021-03-03 09:15
  目的確定太陽電池空間等離子環(huán)境下的功率泄漏特性參數(shù)。方法在地面模擬等離子環(huán)境下,測(cè)量太陽電池陣收集電流隨偏置電壓的變化規(guī)律,再根據(jù)計(jì)算模型估算太陽電池陣空間環(huán)境下的功率泄漏數(shù)值。結(jié)果太陽電池收集電流隨偏置電壓的增大而增大,達(dá)到一定閾值后,發(fā)生收集電流突變現(xiàn)象,實(shí)際測(cè)試電流值大于100m A,功率泄漏百分比大于14.3%。輝光放電伴隨收集電流突變過程,等離子體鞘層從太陽電池的導(dǎo)體部分?jǐn)U展到介質(zhì)部分;收集電流突變發(fā)生后,測(cè)量電池暗特性,未發(fā)現(xiàn)明顯損傷。結(jié)論針對(duì)未來高電壓大功率太陽電池陣,應(yīng)采用功率泄漏試驗(yàn),檢驗(yàn)其功率泄漏特性,建議綜合考慮多方面的因素規(guī)避發(fā)生收集電流突變風(fēng)險(xiǎn)。 

【文章來源】:裝備環(huán)境工程. 2020,17(03)

【文章頁數(shù)】:5 頁

【部分圖文】:

太陽電池陣等離子體環(huán)境下功率泄漏試驗(yàn)研究


功率泄漏試驗(yàn)原理

太陽電池陣等離子體環(huán)境下功率泄漏試驗(yàn)研究


試驗(yàn)系統(tǒng)

電壓圖,偏置,電壓,功率


使用同一塊試樣進(jìn)行兩次試驗(yàn)測(cè)試。偏置電壓與泄漏電流的變化關(guān)系如圖3所示,太陽電池陣試樣的收集電流隨著偏置電壓的增大而增大。偏置電壓較低時(shí),收集電流量值較小,約為毫安量級(jí),功率泄漏情況較為緩和,是“慢”功率泄漏;當(dāng)偏置電壓升高至一定閾值時(shí),收集電流急劇增加,大于100 mA,是“快”功率泄漏。另外,前后兩次試驗(yàn)收集電流突變閾值存在著較大的差異,第一次試驗(yàn)的電壓閾值為210 V(與文獻(xiàn)[13]的試驗(yàn)結(jié)果相近),第二次試驗(yàn)的電壓閾值為300 V。同一塊試樣,前后兩次的閾值電壓相差高達(dá)90 V,推測(cè)主要原因是試樣的狀態(tài)在第一次放電之后發(fā)生了變化,導(dǎo)致閾值升高。2.2 輝光放電

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]低軌道航天器高電壓太陽電池陣電流泄漏效應(yīng)分析計(jì)算[J]. 師立勤,劉四清,鄭惠南.  空間科學(xué)學(xué)報(bào). 2012(01)



本文編號(hào):3061015

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