本文選題：面向 + 機載��； 參考：《中國民航大學(xué)》2015年碩士論文

【摘要】：機載存儲單元是航電系統(tǒng)數(shù)據(jù)通信過程的重要組成部分,關(guān)鍵存儲數(shù)據(jù)的失效會對飛行安全造成重大影響。近些年,隨著芯片制造工藝的提升,電子元器件的尺寸越來越小,這樣的器件安裝在航電系統(tǒng)中發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)的概率大幅度提高,單粒子翻轉(zhuǎn)故障的檢測也就變得越來越重要。本文就機載存儲單元的單粒子翻轉(zhuǎn)故障問題進行研究,根據(jù)并口通信、串口通信和ARINC429總線的不同特點分別設(shè)計相應(yīng)的故障測試系統(tǒng)。硬件方面,以FPGA最小系統(tǒng)板作為主控部分,完成測試數(shù)據(jù)的板卡端收發(fā)、模擬故障生成及不同類型信號間的相互轉(zhuǎn)換等工作,使用NI公司的6548型數(shù)字收發(fā)板卡和德國的AIM公司的ACX429板卡完成輸出數(shù)據(jù)的采集任務(wù);軟件方面,使用LabVIEW與MATLAB混合編程的方式生成測試數(shù)據(jù),基于LabVIEW軟件和PXI自動化測試平臺開發(fā)單粒子翻轉(zhuǎn)故障測試系統(tǒng)。傳統(tǒng)的測試系統(tǒng)通常由示波器和邏輯分析儀等純粹的硬件工具搭建,連線復(fù)雜、數(shù)據(jù)分析效率較低。本文的測試系統(tǒng)采用軟硬件相結(jié)合的方式,由LabVIEW軟件控制硬件工具執(zhí)行測試過程,既減少了接線數(shù)量,又能夠模擬機載存儲單元的單粒子翻轉(zhuǎn)故障及其對測試系統(tǒng)造成的影響,實時監(jiān)測系統(tǒng)故障狀態(tài)、準(zhǔn)確查找故障地址。綜上所述,本測試系統(tǒng)減少了工作量,極大提高了測試效率。
[Abstract]:Airborne storage unit is an important part of the data communication process of avionics system. The failure of key storage data will have a significant impact on flight safety. In recent years, with the improvement of chip manufacturing technology, the size of electronic components is becoming smaller and smaller. The detection of single-particle flip fault becomes more and more important. In this paper, the single particle flip fault of airborne memory cell is studied. According to the different characteristics of parallel port communication, serial communication and ARINC429 bus, the corresponding fault test system is designed. In the hardware aspect, the FPGA minimum system board is used as the main control part to complete the transceiver of the test data board, to simulate the fault generation and the mutual conversion between different types of signals, and so on. The output data is collected by using the 6548 digital transceiver board of NI Company and the ACX429 board card of AIM Company of Germany, and the test data is generated by the mixed programming of LabVIEW and MATLAB in software. Based on LabVIEW software and PXI automatic test platform, a single particle flip fault test system is developed. The traditional test system is usually built with pure hardware tools such as oscilloscope and logic analyzer. The connection is complex and the efficiency of data analysis is low. The test system in this paper adopts the combination of software and hardware, and LabVIEW software controls the hardware tool to execute the test process, which not only reduces the number of wiring, but also simulates the single particle flip fault of the airborne memory cell and its influence on the test system. Real-time monitoring system fault state, accurate search fault address. To sum up, the test system reduces the workload and greatly improves the test efficiency.
【學(xué)位授予單位】：中國民航大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：V243

【相似文獻】

相關(guān)期刊論文 前10條

1 陳智敏;;列車自動監(jiān)控系統(tǒng)運營信息存儲單元的設(shè)計與實施[J];鐵道通信信號;2012年04期

2 蔡良軍;王衛(wèi)東;;一種低電壓開關(guān)電流甲乙類存儲單元的設(shè)計[J];電子工程師;2007年06期

3 胡作啟;袁成偉;李蘭;;相變隨機存儲器存儲單元結(jié)構(gòu)設(shè)計[J];華中科技大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版);2009年06期

4 侯孝民,李剛,歐宏武;超高速多體并行存儲單元設(shè)計[J];指揮技術(shù)學(xué)院學(xué)報;1999年02期

5 白曉明,李剛,杜秀國;成象型激光預(yù)警幀減存儲單元的設(shè)計[J];電子對抗技術(shù);2001年03期

6 姜錦范;解決可編程序控制器用戶存儲單元不足的方法[J];青島遠洋船員學(xué)院學(xué)報;1997年03期

7 馬翠;李震;彭菊紅;繆向水;;相變存儲器存儲單元瞬態(tài)電流測量[J];計算機與數(shù)字工程;2012年02期

8 趙衛(wèi)濱;周渝霞;;教你使用PROG-110[J];電子制作;2000年10期

9 錢榴源;陳則王;;一種超深亞微米SRAM存儲單元的設(shè)計方法[J];佳木斯大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版);2012年02期

10 劉寅,蘇昱,朱鈞;FLASH存儲單元結(jié)構(gòu)及功能研究[J];清華大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版);1999年S1期

相關(guān)重要報紙文章 前5條

1 本報記者 張玉蕾;ABB節(jié)能增效的最佳實踐[N];中國電力報;2012年

2 吳宵;新型磁隨機原理型器件問世[N];中國質(zhì)量報;2007年

3 本報駐韓國記者 薛嚴;以3D視角審視閃存革命[N];科技日報;2013年

4 記者 劉霞;新型光子存儲器或可打破網(wǎng)速瓶頸[N];科技日報;2012年

5 本報記者 馮衛(wèi)東;未來的U盤納米造[N];科技日報;2007年

相關(guān)博士學(xué)位論文 前4條

1 陳竹西;面向物流的新型自動存取模式與優(yōu)化[D];東南大學(xué);2015年

2 顧明;嵌入式SRAM性能模型與優(yōu)化[D];東南大學(xué);2006年

3 劉奇斌;相變存儲單元熱模擬及其CMP關(guān)鍵技術(shù)研究[D];中國科學(xué)院研究生院（上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所）;2007年

4 劉曉杰;金屬納米晶電荷俘獲型存儲單元的制備及其存儲效應(yīng)的研究[D];南京大學(xué);2014年

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前10條

1 李二亮;基于Mix-IS算法的SRAM設(shè)計及良率分析[D];蘇州大學(xué);2015年

2 周月琳;基于六管存儲單元的高可靠性SRAM設(shè)計[D];北京工業(yè)大學(xué);2015年

3 吳楊樂;65nm工藝下一種新型MBU加固SRAM的設(shè)計與實現(xiàn)[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2014年

4 李順闖;抗輻照SRAM的研究與設(shè)計[D];西安電子科技大學(xué);2014年

5 王光如;一種新型抗輻照SRAM的設(shè)計與驗證[D];西安電子科技大學(xué);2015年

6 王肖強;FPGA中嵌入式塊存儲器的設(shè)計[D];西安電子科技大學(xué);2015年

7 徐玉峰;基于65nm工藝新型SRAM存儲單元設(shè)計[D];安徽大學(xué);2016年

8 丁瑞;寬電壓SRAM存儲單元及存儲陣列研究與實現(xiàn)[D];東南大學(xué);2016年

9 楊順;阻變存儲器外圍電路的設(shè)計與實現(xiàn)[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2015年

10 姜承翔;基于循環(huán)校驗的機載SRAM型存儲單元單粒子翻轉(zhuǎn)加固設(shè)計研究[D];中國民航大學(xué);2015年

，

本文編號：2045689